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半电波暗室中场均匀性校准窗口的选择问题探析 　　摘 要：电子电气设备在进行射频电磁场辐射抗扰度试验中，为了保证试验的有效性和重复性，需要对场均匀性进行校准。文中介绍了场均匀性校准的要求和方法，并以80MHz～1GHz10V/m的校准场强为例，分别选择1.5m×1.5m和0.5m×0.5m两个窗口对均匀域进行校准。然后从场强分布、场强差值分布、定点场强实测等方面对这两个窗口的校准结果进行分析、对比，结果表明小窗口的场均匀性要明显优于大窗口。最后文章建议按照被测件（Equipment Under Test，简称EUT）的尺寸来选择校准窗口的大小，在窗口覆盖EUT的前提下尽量选择较小的尺寸，对于过大尺寸的EUT可采用部分照射法。这样不仅更好地保证了试验的有效性和重复性，而且还提高了场均匀性校准的效率。 　　关键词：半电波暗室 场均匀性校准 辐射抗扰度 　　中图分类号：TM937 文献标识码：A 文章编号：1672-3791（2015）06（b）-0247-02 　　半电波暗室（semi-anechoic chamber）即除地面安装反射接地平板外，其余内表面均安装吸波材料的屏蔽室[1-2]。目前国际上普遍采用半电波暗室替代开阔试验场地进行电磁兼容测试，包括电磁辐射干扰测试和电磁辐射抗扰度测试[3]。 　　测试面场均匀性是衡量半电波暗室性能的非常重要的指标，也是保证EUT在电磁辐射抗扰度试验中测量结果的可靠性和重复性的关键。IEC61000-4-3：2010《电磁兼容试验和测量技术射频电磁场辐射抗扰度试验》对半电波暗室在80MHz～6GHz范围内场均匀性校准的要求和方法做了详细的规定。该文参照标0准要求，以1GHz以下场均匀性校准为例，对不同大小窗口的校准结果分析验证，最后对射频电磁场辐射抗扰度试验中场均匀性校准窗口的选择提出建议。 　　1 IEC 61000-4-3：2010场均匀性校准要求与方法 　　1.1 试验设备及场地布置 　　场均匀性校准需要用到的主要设备有：半电波暗室、射频信号发生器、功率放大器、发射天线、场强监测装置、功率计等。在半电波暗室外信号发生器发出信号，将其传送给功率放大器，信号经放大后通过同轴电缆穿过穿墙板进入暗室，再通过天线向空间辐射出来，最后由校准平面上的场强探头接收信号，并将数据传回暗室外进行监测。为了保证试验区场的均匀一致，在天线与校准面之间需铺设吸波材料，尽可能减少电磁波的地面反射[4-5]。场均匀性的校准布置场地如图1所示。 　　1.2 场均匀性校准要求 　　场校准的目的是为了保证整个EUT的各处场强都足够均匀以便确保试验结果的有效性。标准中使用的“均匀域”（uniform field area，简称UFA）概念是一个假想的垂直平面，在该平面中场的变化足够小，本文用到的“校准窗口”也是这个概念。根据标准规定，场均匀性校准要求需从以下几点来考虑。 　　1.2.1 频率范围 　　根据EUT工作所在的电磁环境不同，场校准的频率分为两类，一是80～1GHz用于模拟普通电磁环境的辐射，二是800～960MHz和1.4～6.0GHz，主要针对来自数字无线电话和其他射频发射装置发出的电磁辐射。现在有些宽频带数据传输系统、高性能无线局域网、短距离发射装置等的最高工作频率都已接近6GHz。 　　1.2.2 高度 　　由于靠近参考地平面不可能建立一个均匀场，校准的区域应设在离参考地平面上方不低于0.8m处，天线中心轴线应垂直正对窗口中心。对于某些EUT必须接近参考地平面放置，为了建立测试的试验严酷等级，此时还要记录离参考地平面上方0.4m高处的场强。 　　1.2.3 距离 　　对于1GHz以下的场校准，发射天线的中心与均匀域之间的距离至少在1m以上，最好为3m。1GHz以上由于铁氧体和吸波材料的吸收性能下降以及高频天线的束宽较窄，校准区域应分割为0.5m×0.5m的小窗口进行试验，场发射天线应距校准区域1m。 　　1.2.4 均匀性判据 　　对0.5m×0.5m的最小校准区域，栅格4个顶点的场强幅值在标称值的-0dB～+6dB范围内，即认为该场是均匀的；对于大于0.5m×0.5m的校准区域，栅格75%的校准点的场强幅值在标称值得-0dB～+6dB范围内，认为该场是均匀的。若在试验频率的最大3%范围内不满足6dB判据，但至少在-0dB～+10dB容差内即可认为已满足校准要求，有争议时优先考虑-0dB～+6dB。 　　1.3 场均匀性校准方法 　　场强校准必须用未调制的信号分别对水平和垂直极化进行校准。校准场强Ec应至少是给EUT施加的试验场强Et的1.8倍，以检验并确保试验场强被调制扩大了1.8倍后，放大器仍能正常工作。场校准有恒定场强法和恒定功率法，下面以1.5m×1.5