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当参考光束与测量光束的光程差Δ是波长λ的整数倍时,即Δ=±K入(K=0,1,2,3…)时,两束光波的相位相同, M1处的光强度最大(出现亮点),光电器件输出高电平;当光程差Δ=±(K十1/2) λ时,两束光波的位相差为π, M1处的光强度为零(出现暗点) ,光电器件输出低电平。 当M3沿着测量光束的光轴移动时,在M1上将出现亮暗交替的干涉条纹,其光强度的变化规律为 Iv=Iov(1+KIcos(2πΔ/λ)) Iv=Iov+IovKIcos(2πΔ/λ) (7-34) 式中,Io为平均光强度,KI为干涉条纹的对比度。 光程差每变化波长λ时,干涉条纹暗亮变化一次,当干涉条纹变化n次时,光程差Δ=nλ。对于图7-14所示结构,光程差Δ是动镜M3位移量L的二倍。因此,被测位移量 L=nλ/2 ( 7-35) 只要计量干涉条纹的个数n,便可测出测量头移动的长度。这种结构的量化单位为λ/2。 根据两个光电器件输出脉冲的先后判断测量头的移动方向(即条纹是由亮变黑还是由黑变亮) 。然后,采用可逆计数器进行加、减计数。 信号处理电路 当动镜移动时,光电接收器输出近似的正弦信号,经放大后由施密特比较器进行整形。如条纹右移,则?V1的相位超前900,V0输出为“1”,控制可逆计数器做加法计数,反之则V2的相位超前900 ,V0输出为“0”, 控制可逆计数器做减法计数。 2. 莫尔条纹测位移 两块光栅以微小角度重叠时,在与光栅大致垂直的方向上,将看到明暗相间的粗条纹,称为莫尔条纹(moire fringe)。 如图7-16所示为两种计量光栅示意图。其中图(a)为刻划光栅。 图7-16(b)为用腊腐蚀或照相腐蚀的方法制成的黑白光栅。计量光栅的黑白线条等宽,光栅的节距(光栅常数,组成莫尔条纹的两块计量光栅的相邻刻线之间的宽度)为等间隔的。 光栅的节距大于0.01mm 图7-17中的a-a线透光面积最大,形成条纹的亮带,在b-b线上,光线被暗条相互遮挡,形成暗带。 从条纹的形状可以看出,莫尔条纹的位置在两光栅刻线夹角θ的补角平分线上。当两光栅相对移动时,莫尔条纹就在移动的垂直方向即θ角的平分线上移动。 假设光栅的节距为d,两光栅的栅线夹角为θ,则条纹的间隔(宽度)m 与d 和θ的关系为 一般θ角很小 (7-36) (7-37) 光栅每移一个栅距,莫尔条纹移过一个间隔(即一个条纹)。因此,只要计测条纹移过的数量n,便可计算出光栅的位移量L,即 L=nq (7-38) 式中q=d为量化单位,表示每条纹的长度量。 莫尔条纹信号通过狭逢入射到光电器件上,它输出的光电信号近似于正弦波。用两个光电器件输出的信号可以判断光栅移动的方向。两路光电信号的相位差为π/2(放置间距调整为莫尔条纹间距的1/4)。 长光栅莫尔条纹 播放动画 长光栅莫尔条纹 长光栅光闸莫尔条纹 播放动画 特例:当 ?=0, d1=d2 → m=? → 光闸莫尔条纹 长光栅纵向莫尔条纹 特例: 当 ?=0, d1≠d2 → 纵向莫尔条纹 当光栅转盘旋转时,指示光栅与圆盘光栅产生的莫尔条纹将沿圆盘径向移动,光电探测头读出并判断莫尔条纹的移动量和方向,便将角度量变换成莫尔条纹信号。 只能测量角度的变化量,不能得到角度的绝对值。因此,称它为增量式编码器。 光栅盘每条刻线表示角度的增量,即量化单位。当光栅转盘转过一条刻线时,莫尔条纹将变化一次,通过计算莫尔条纹的变化次数n,便可得到转轴旋转的角度θ,即 θ=qn (7-39) q为量化单位,表示每条纹的角度量。 3.增量式编码器(莫尔条纹)的应用1)精确测量角度和角位移;2)精确测量转速;3)测量线速度,由测量转速间接求得;4)测量线性位移,由测量角位移间接求得。 播放中…… 圆弧莫尔条纹 单击准备演示 播放动画 光闸莫尔条纹 播放动画 播放中…… 环形莫尔条纹 播放动画 播放中…… 单击准备演示 单击准备演示 辐射形莫尔条纹 播放动画 由于存在栅距误差,故莫尔条纹不是直线,但莫尔条纹是由光栅一系列刻线的交点组成,光电元件接收的是某个区域中所含刻线的综合效果,故对栅距误差起到平均作用,从而提高精度 。 2、误差的平均效应 (7-40) 莫尔条纹法进行几何量的测量有如下优点:???? ??1、 位移量的放大作用 将莫尔条纹间隔与光栅距之比定义为光栅付的放大倍数α,对于微小倾角有 光电器件接收莫尔条纹光信号是
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