材料分析方法0～绪论讲解.pptVIP

绪 论 §1.材料及其学科的演变 材料科学的重要地位 材料科学与工程四要素关系 材料的五要素 1.2 材料学科的形成与演变 材料科学与工程 微观材料学中的三个基础概念 材料学科的分化图 美国MIT矿冶及材料学名称的演变 金属材料科学发展的阶段与人类思维方式的演变 §2.各种工程材料概况 各种材料的特征 §3 .材料研究内容及其显微分析测试方法 3.1 显微组织结构的主要内容及结构分析 结构分析方法 3.2 显微分析 3.2.1光学显微镜 3.2.2 X射线衍射(XRD,X-Ray Diffraction)分析 3.2.3 电子显微镜(EM, Electron Microscope) 3.2.4 扫描探针显微技术 3.3?成分分析 化学分析与光谱分析 3.4 宏观物理性质的研究分析 如力学性能、物理性能的测定。 3.6 能谱分析 §4. 本课程内容及要求 §5. 主要参考资料 本 章 结 束 (2).扫描电子显微镜(SEM，Scanning Electron Microscope) SEM是利用电子束在样品表面扫描激发出来代表样品表面特征的信号成像的。 最常用来观察样品表面形貌（断口等），还可观察样品表面的成分分布情况。 法国最早，60年代开始。分辨率可达 1nm，放大倍数可达 2×105倍(10万倍)。 （3）.电子探针显微分析(EPMA，Electron Probe Micro-Analysis) EMPA是利用聚焦的超细的电子束打在样品的微观区域，激发出样品该微区的特征X-Ray，分析其X-Ray的波长和强度来确定样品的微观区域的化学成分。 将扫描电镜（SEM）与电子探针显微分析（EPMA）结合起来，则可在观察微观形貌的同时对该微观区域进行化学成分同位分析。 (4).扫描透射电子显微镜(STEM，Scanning Transmission Electron Microscope) STEM同时具有SEM和TEM的双重功能。 若配上电子探针附件(分析电镜)则可实现对微观区域的组织形貌观察，晶体结构鉴定和化学成分测试“三位一体”的同位分析。 (5).超高压透射电子显微镜 可用于较厚的样品。 (6).场离子电子显微镜 包括扫描隧道显微镜STM(在1981年由Dr.Gerd Binnig发明，垂直方向分辨率达0.01nm，水平方向分辨率达0.1nm,由此于1986年获诺贝尔物理奖）、扫描探针(SPM)、扫描近场光学显微镜。 观察微观形貌的同时对该微观区域进行化学成分同位分析。 3.2.5 原子力显微镜(AFM) 1986年由Dr.Gerd Binnig发明原子力显微镜。可测量表面原子间的力，测量表面的弹性、塑性、硬度、摩擦力等性质。 (1)??? X射线荧光分析 (2)??? 原子吸收光谱 (3)??? 质谱分析 (4)??? 中子活化分析 (5)??? 电子探针和质子探针 (6)??? 俄歇电子谱AES (7)??? 光电子谱仪 (8)??? 二次粒子质谱 化学分析只能给出一块试样材料的平均成分(所含每种元素的平均含量)，并可以达到很高的分析精度，但不能给出所含元素的分布情况(如偏析，同一元素在不同相中的含量等)。 光谱分析给出的结果也是样品的平均成分。 实际上，微区成分不均匀性（元素在钢中的微观不均匀性） 微观结构不均匀性 微区性能不均匀性 决定材料宏观性能。 3.5 极端条件下的性能探测 采用超高压、超高温、极低温等，是目前比较热门的研究方向。 俄歇电子能谱(AES): 表面成分的快速分析 X-Ray电子能谱(ESCA): 研究样品表面组成和结构 紫外光电子能谱(UPS): 量子化学的研究 由激发源发出的具有一定能量的X-Ray、电子束、紫外光、离子束或中子束作用于样品表面时，可将样品表面原子中不同能级的电子激发出来，产生光电子或俄歇电子等。 这些自由电子带有样品表面信息，并具有特征动能，通过能量分析器收集和研究它们的能量分布，经检测记录电子信号强度与电子能量的关系曲线，此即电子能谱。其分类如下 ： 内容： 主要讲授XRD、TEM、SEM、EPMA等显微分析的基本原理与方法和应用 。 要求 ： 掌握基本原理。正确选择材料分析、测试方法、（遇到相关的问题知道采用那种或那几种方法解决）； 看懂或会分析一般的（典型、较简单）的测试结果（图谱、图象等）； 可以与分析测试专业人员共同商讨有关材料分析