光无源器件技术总结.docVIP

光无源器件 百科名片 光无源器件 光无源器件是光纤通信设备的重要组成部分，也是其它光纤应用领域不可缺少的元器件。具有高回波损耗、低插入损耗、高可靠性、稳定性、机械耐磨性和抗腐蚀性、易于操作等特点，广泛应用于长距离通信、区域网络及光纤到户、视频传输、光纤感测等等。 目录 光无源器件的品种 光无源器件的测试方法 光无源器件的测试结论 光源选择 功率计选择 偏振控制器选择 测试系统的选择 本文结论 原理及应用简介 光纤活动连接器 连接器插头 跳线 转换器 变换器 光纤活动连接器的表征指标 插入损耗 回波损耗 重复性 互换性 活动连接器的使用 光分路器 光分路器的分光原理 光分路器的常用技术指标 分光比 隔离度 光衰减器 光隔离器 光开关 波分复用器 光接头盒、光配线箱、光终端盒 光无源器件的品种 光无源器件的测试方法 光无源器件的测试结论 光源选择 功率计选择 偏振控制器选择 测试系统的选择 本文结论 原理及应用简介 光纤活动连接器 连接器插头 跳线 转换器 变换器 光纤活动连接器的表征指标 插入损耗 回波损耗 重复性 互换性 活动连接器的使用 光分路器 光分路器的分光原理 光分路器的常用技术指标 分光比 隔离度 光衰减器 光隔离器 光开关 波分复用器 光接头盒、光配线箱、光终端盒 展开 编辑本段光无源器件的品种 　　▲ FC、SC、ST、LC等多种类型适配器、衰减器 　　▲ 有PC、UPC、APC三种连接插头形式（现UPC、PC基本说的是同一种，只是技术数值有小差别） 　　▲ FC、SC、ST、LC等各种型号和规格的尾纤（包括带状和束状）和跳线，芯数从单芯到12芯不等。 编辑本段光无源器件的测试方法 　　光无源器件测试是光无源器件生产工艺的重要组成部分，无论是测试设备的选型还是测试平台的搭建其实都反映了器件厂商的测试理念，或者说是器件厂商对精密仪器以及精密测试的认识。不同测试设备、不同测试系统搭建方法都会对测试的精度、可靠性和可操作性产生影响。本文简要介绍光无源器件的测试，并讨论不同测试系统对精确性、可靠性和重复性的影响。 　　在图一所示的测试系统中，测试光首先通过偏振控制器，然后经过回波损耗仪，回波损耗仪的输出端相当于测试的光输出口。这里需要强调一点，由于偏振控制器有1～2dB插入损耗，回波损耗仪约有5dB插入损耗，所以此时输出光与直接光源输出光相比要小6～7dB。可以用两根单端跳线分别接在回损仪和功率计上，采用熔接方式做测试参考，同样可采用熔接方法将被测器件接入光路以测试器件的插损、偏振相关损耗(PDL)和回波损耗(ORL)。 　　该方法是很多器件生产厂商常用的，优点是非常方便，如果功率计端采用裸光纤适配器，则只需5次切纤、2次熔纤(回损采用比较法测试*)便可完成插损、回损及偏振相关损耗的测试。但是这种测试方法却有严重的缺点：由于偏振控制器采用随机扫描Poincare球面方法测试偏振相关损耗，无需做测试参考，所以系统测得的PDL实际上是偏振控制器输出端到光功率计输入端之间链路上的综合PDL值。由于回损仪中的耦合器等无源器件以及回损仪APC的光口自身都有不小的PDL，仅APC光口PDL值就有约0.007dB，且PDL相加并不成立，所以PDL测试值系统误差较大，测试的重复性和可靠性都不理想，所以这种方法不是值得推荐的方法。改进测试方法见图2所示。 　　在图2测试系统中，由于测试光先通过回损仪再通过偏振控制器，所以光源输出端与偏振控制器输入端之间的光偏振状态不会发生大的变化，也就是说系统可测得较准确的DUT PDL值。然而问题还没有解决，PDL是可以了，但回波损耗测试却受到影响。我们知道，测试DUT回波损耗需要先测出测试系统本身的回光功率，然后测出系统与DUT共同的回光功率，相减得出DUT回光功率。从数学上容易理解， 系统回光功率相对越小，DUT回损值的精确度、可靠性以及动态范围就会越好，反之则越差。在第二种系统中，系统回光功率包含了偏振控制器回光功率，所以比较大，进而限制了DUT回损测试的可靠性和动态范围。但一般而言，只要不是测试-60dB以外的回损值，这种配置的问题还不大，因此它在回损要求不高的场合是一种还算过得去的测试方法。除了上述两种测试方案以外，还有一种基于Mueller矩阵法的测试系统(图3)。 　　这种测试系统采用基于掺铒光纤环的可调谐激光器(EDF TLS)而并非普通外腔式激光器，这点很重要，后文还有论述，此外它还加上Mueller矩阵分析法专用的偏振控制器、回损仪和光功率计。由于采用Mueller矩阵法测试PDL时要求测试光有稳定的偏振状态，所以可调谐光源与偏振控制器之间以及偏振控制器与回损仪之间要用硬跳线连接，这样可以排除光纤摆动对测试的影响。用Mueller矩阵法测试P