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SPC(Statistical Process Control) 统计制程管制 有反馈的过程控制模型 1.目的：  通过对制程产品特殊特性的动态的控制，使产品的不良或即将发生的不良得到预先防止。（以前品质控制为静态控制，以进行批量的检验为主，但现代生产中有许多仪表仪器是随时反映过程参数，除这些仪器控制外，SPC是最好的动态控制方法，如股票分析的走势图） 2.管制图类型： 3.管制图的选择方式 4.管制图的种类 4.1 均值和极差图（X-R） 4.2 P管制图 4.3 均值和标准差图（X-δ） 4.4 中位数极差图（~X-R） 4.5 单值和移动极差图（X-MR） 4.6 不合格品数的np图 4.7 不合格（缺陷）数的c图 4.8 单位不合格（缺陷）数的u图 4.1均值和极差图（X-R） 4.1.1 收集数据(以样本容量恒定的子组形式报告，子组通常包括2-5件连续的产品，并周性期的抽取子组。) 4.1.2 计算控制限：(首先计算极差的控制限，在计算均值的控制限) 4.1.3 过程控制的分析 4.1.4 过程能力解释 4.1.1.1 选择子组大小，频率和数据 4.1.1.1.1子组大小：一般为5件连续的产品，仅代表单一刀具/冲头/过程流等。（变差小） 4.1.1.1.2子组频率：在适当的时间内收集足够的数据，这样子组才能反映潜在的变化，这些变化原因可能是换班/操作人员更换/材料批次不同等原因引起。对正在生产的产品进行监测的子组频率可以是每班2次，或一小时一次等。 4.1.1.1.3子组数：子组越多，变差越有机会出现。一般为25组，首次使用管制图选用35 组数据，以便调整。 4.1.1.2 建立控制图及记录原始数据 4.1.1.3 计算每个子组的均值（X）和级差R 对每个子组计算：X=（X1+X2+…+Xn）/ n （n表示子组容量） R=Xmax-Xmin 4.1.1.4 选择控制图的刻度 4.1.1.5 将均值和极差画到控制图上 4.1.2 计算控制限：(首先计算极差的控制限，在计算均值的控制限) 4.1.3过程控制的分析 4.1.3.1 极差图上的数据点分析； 4.1.3.2 识别并标注所有特殊原因（极差图）； 4.1.3.3 重新计算控制限（极差图） 4.1.3.4均值图上的数据点分析 4.1.3.5 识别并标注所有特殊原因（均值图） 4.1.3.6 重新计算控制限（均值图） a)?出现一个或多个点超出任何控制限是该点处于失控状 的主要证据，应分析。 b) 超出极差上控制限的点通常说明存在下列情况中的一 或几种： b.1 控制限计算错误或描点时描错 b.2 零件间的变化性或分布的宽度已增大 b.3 测量系统变化（如：不同的检验员或量具） c) 有一点位于控制限之下，说明存在下列情况的一种或 多种 c.1控制限或描点时描错 c.2 分布的宽度变小（变好） c.3 测量系统已改变（包括数据编辑或变换） 4.1.3.1.2?? 链----有下列现象之表明过程已改变或出现 某种趋势：连续 7点在平均值一侧或7点连 续上升或下降 a)?? 高于平均极差的链或上升链说明存在下列情况之一或全部： a.1 输出值的分布宽度增加，原因可能是无规律的（设备工作不 正常或固定松动）或是由于过程中的某要素变化（如使用新 的不一致的原材料），这些问题都是常见的问题，需要纠正。 a.2 测量系统的改变（如新的检验人或新的量具） 4.1.3.1.3 明显的非随机图形 4.1.3.1.3 明显的非随机图形 c)?如果显著多余2/3以上的描点落在离R很近之处（对于25子组如 果超过90%的点落在控制限的1/3区域），则应对下列情况的一种或更多进行调查： c.1 控制限或描点计算错描错 c.2 过程或取样方法被分层，每个子组系统化包含了从两个或多 个具有完全不同的过程均值的过程流的测量值（如：从几组