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课程名称：集成电路可测性设计 课程编码：座机电话号码 课程学分：3学分 课程学时：48学时 适用专业：微电子学 《集成电路可测性设计》 Design for Testability of Integrated Circuits 教学大纲 一、课程性质与目的 《集成电路可测性设计》是微电子学科的专业选修课，该课程在《电子器件》、《数字集成电路》、《模拟集成电路》、《集成电路测试技术基础》等课程的基础上，全面系统地介绍集成电路可测性设计的基本原理、基本分析方法。全部内容分为五个部分：第一部分数字电路DFT和扫描设计；第二部分为内建自测试；第三部分为边界扫描标准；第四部分为模拟测试总线标准；第五部分为系统测试和基于核的设计。通过学习这门课，学生会有如下收获：使学生对集成电路可测试技术主要几种方法有明确的概念；与先修课《数字集成电路》、《模拟集成电路》相结合，使学生对集成电路可测试性设计、内嵌式自检测（BIST）的原理和设计方法有明确的概念，能够在集成电路设计中，考虑到可测性问题。 二、教学基本内容及基本要求 第一章 数字电路DFT和扫描设计 教学基本要求 掌握：DFT测试的意义和基本概念，集成电路设计时如何进行DFT设计 理解：在通用型集成电路设计软件中，DFT设计是如何实现的？ 了解：为提高电路检测故障覆盖率，DFT设计在集成电路设计时需考虑哪些方面？ 教学基本内容 1.1 特定的DFT方法 1.2 扫描设计 1.3 部分扫描设计 1.4 扫描的变种 第二章 内建自测试 教学基本要求 掌握： BIST的原理和基本概念 理解： BIST的算法和规则 了解： 在存储器中应用BIST作为故障检测的应用。 教学基本内容 2.1 BIST的经济性问题 2.2 随机逻辑BIST 2.3 存储器BIST 2.4 延迟故障BIST 第三章 边界扫描标准 教学基本要求 掌握：边界扫描语言和系统结构。 理解：边界扫描系统结构。 了解：边界扫描系统及其用途。 教学基本内容 3.1 目的 3.2 边界扫描的系统结构 3.3 边界扫描描述语言 第四章 模拟测试总线标准 教学基本要求 掌握：模拟电路可测性设计。 了解：模拟测试总线标准。 教学基本内容 4.1 模拟电路的可测性设计 4.2 模拟测试总线 第五章 系统测试和基于核的设计 教学基本要求 掌握：功能测试、诊断测试和可测性系统设计。 了解：系统芯片测试的体系结构和测试方法。 教学基本内容 5.1 系统测试问题的定义 5.2 功能测试 5.3 诊断测试 5.4 可测性系统设计 5.5 基于核的设计和测试外壳 5.6 系统芯片的测试体系结构 5.7 完整的设计与测试方法 三、本课程与其它相关课程的联系与分工 前修课程：《电子器件》、《数字集成电路》、《模拟集成电路》 四、课程各教学环节和各篇章（节）学时分配（共32学时） 章节 内容 总课时 讲授课时 实验课时 第一章 数字电路DFT和扫描设计 9 6 3 第二章 内建自测试 16 10 6 第三章 边界扫描标准 9 6 3 第四章 模拟测试总线标准 6 4 2 第五章 系统测试和基于核的设计 8 6 2 合计 48 32 16 五、本课程采用的教学方法和教学手段 课程教学采用计算机多媒体投影，内容有Powerpoint、录像光盘放映等 六、教材及教学参考资料 教材： 蒋安平等，《超大规模集成电路测试》，2005，电子工业出版社 参考书：沈绪榜，《超大规模集成电路测试基础》，1995，西安电子科技大学出版社 七、本课程的考核方法及成绩评定标准 成绩评定采用百分制，期末考试占70%，作业占30%，期末考试为闭卷笔试。 八、其它问题的说明 课内/外学时比： 1:1 课外作业：主要作业以习题为主，还有论文（大作业）； 除第一章外，每章习题量为3道左右，要求学生独立完成，限期提交。 大纲撰写人：杨 兵 大纲审阅人：张晓波 系负责人： 姜岩锋 学院负责人：王景中 制定（修订）日期：2007年6月