材料分析 题库 含答案.doc

材料分析试题库 选择题： 一、 1. M层电子回迁到K层后，多余的能量放出的特征X射线 Kα；B. Kβ；C. Kγ；D. Lα。 2. 当X射线 Cu；B. Fe；C. Ni；D. Mo。 3. 当电子把所有能量都转换为X射线X射线 短波限λ0；B. 激发限λk；C. 吸收限；D. 特征X射线 X射线 光电子；B. 二次荧光；C. 俄歇电子；D. （A+C） 二、 1.最常用的X射线衍射方法是（ B ）。 A. 劳厄法；B. 粉末法；C. 周转晶体法；D. 德拜法。 2.射线衍射方法中，试样为单晶体的是（D ） A、劳埃法 B、周转晶体法 C、平面底片照相法 D、 A和B 3.晶体属于立方晶系，一晶面截x轴于a/2、y轴于b/3、z轴于c/4，则该晶面的指标为??A、(364)?? B、(234)?? C、(213)? D、(468) 4.立方晶系中，指数相同的晶面和晶向（B ） A、相互平行 B、相互垂直 C、成一定角度范围 D、无必然联系 5.晶面指数（111）与晶向指数（111）的关系是（ ）。A. 垂直；B. 平行；C. 不一定。 6.在正方晶系中，晶面指数{100}包括几个晶面（ ）。A. 6；B. 4；C. 2 D. 1；用来进行晶体结构分析的X射线学分支是（?? ）A.X射线透射学；B.X射线衍射学；C.X射线光谱学；D.其它 A、112 B、113 C、101 D、111 7、对于面心立方晶体，产生系统消光的晶面有（ C ） A、200 B、220 C、112 D、111 8、热振动对x-ray衍射的影响中不正确的是（E ） A、温度升高引起晶胞膨胀 B、使衍射线强度减小 C、产生热漫散射 D、改变布拉格角 E、热振动在高衍射角所降低的衍射强度较低角下小 9、将等同晶面个数对衍射强度的影响因子称为（ C ） A、结构因子 B、角因子 C、多重性因子 D、吸收因子 四、 1、衍射仪的测角仪在工作时，如试样表面转到与入射线成30度角时，计数管与入射线成多少度角?（B） A. 30度；B. 60度；C. 90度。 2、不利于提高德拜相机的分辨率的是（ ）。A. 采用大的相机半径；B. 采用X射线较长的波长；C. 选用大的衍射角；D.选用面间距较大的衍射面。 3、德拜法中有利于提高测量精度的底片安装方法是（ ）A、正装法B、反装法C、偏装法D、以上均可 4、样品台和测角仪机械连动时，计数器与试样的转速关系是（ B ） A、1﹕1 B、2﹕1 C、1﹕2 D、没有确定比例 5、关于相机分辨率的影响因素叙述错误的是（ C ） A、相机半径越大，分辨率越高 B、θ角越大，分辨率越高 C、X射线波长越小，分辨率越高 D、晶面间距越大，分辨率越低 6、粉末照相法所用的试样形状为（ C ） A、块状 B、分散 C、圆柱形 D、任意形状 7、低角的弧线接近中心孔，高角线靠近端部的底片安装方法为（ A ） A、正装法B、反装法C、偏装法D、任意安装都可 8、以气体电离为基础制造的计数器是（ D） A、正比计数器 B、盖革计数器 C、闪烁计数器 D、A和B 9、利用X射线激发某种物质会产生可见的荧光，而且荧光的多少与X射线强度成正比的特性而制造的计数器为（ C ） A、正比计数器 B、盖革计数器 C、闪烁计数器 D、锂漂移硅检测器 五、 1、测定钢中的奥氏体含量，若采用定量X射线物相分析，常用方法是（ C ）。 A. 外标法；B. 内标法；C. 直接比较法；D. K值法。 2、X射线物相定性分析时，若已知材料的物相可以查（ C ）进行核对。 A. 哈氏无机数值索引；B. 芬克无机数值索引；C.戴维无机字母索引；D. A或B。 3、PDF卡片中，数据最可靠的用（ B ）表示 A、i B、★ C、○ D、C 4、PDF卡片中，数据可靠程度最低的用（ C ）表示 A、i B、★ C、○ D、C 5、将所需物相的纯物质另外单独标定，然后与多项混合物中待测相的相应衍射线强度相比较而进行的定量分析方法称为（ A ） A、外标法 B、内标法 C、直接比较法 D、K值法 6、在待测试样中掺入一定含量的标准物质，把试样中待测相的某根衍射线条强度与掺入试样中含量已知的标准物质的某根衍射线条相比较，从而获得待测相含量的定量分析方法称为（ B ） A、外标法 B、内标法 C、直接比较法 D、K值法 九、 1、 透射电子显微镜中可