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- 2016-10-05 发布于海南
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雷射準直儀的原理及應用
雷射準直儀的原理及應用 姓名:吳家瑋 學號摘要 主要介紹雷射準直儀(雷射干涉儀)的原理與應用,說明雷射要怎樣量測物體以及可以量測出物體的哪些參數,還有能應用在哪些工程中。 前言 光學儀器應用在精密量測上是相當多,光源可包含一般光源和單色光源兩種。前者包括自動視準儀、光學投影機、工具顯微鏡、光學尺、測長儀、光學塊規比測儀、電子高度規和光學分度頭等均用光學原理作為量測的基礎。後者包括光學平板和氦氣燈、雷射塊規比測儀、雷射準直儀、雷射掃描儀和雷射干涉儀等均利用單色光源的特性,以提昇精密度。 原理 利用高方向性和高亮度性,使雷射光束能傳送到足夠遠的目標而幾乎不擴散的平行光,目前,雷射準直儀可應用在建築工程作為準直之用,如屋頂、牆壁、大樑,及在土木工程中作為鋪路、開鑿溝槽、橋樑、開鑿隧道、鋪設管路等準直用;在光學工程中可作為光學元件光軸的準直、光學平面的調整;在機械工程中作為檢驗工具機或平板之真平度、垂直度、角度、對準等用途圖9-4-1為雷射準直儀示意圖,對於精密定位準直,則需要用到四象限光電二極體(Quadrant Detector),通常將這光電二極體裝在待測目標物上進行準直。 目前常用於量測長度的干涉儀,主要以麥克森干涉儀為主;以穩態氦氖雷射為光源,構成一具有干涉作用之量測系統。 現今所使用的雷射干涉儀可以分為兩大類,一是雙頻雷射干涉儀(Heterodyne Int
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