晶体光学基础与单偏光系统分析.ppt

斜方晶系 左 单斜晶系 右 光性方位示意图 三个主轴与三个结晶轴重合 结晶轴b与三个主轴之一重合 三个主轴与三 个结晶轴斜交 三斜晶系光性方位示意图 第二章 偏光显微镜 一. 偏光显微镜的构成 机械系统. 光学系统. 附件 一 . 机械系统主要部件 1 . 镜座与镜臂: 支撑显微镜及连接光源,物台,镜筒 . 2 . 镜筒: 连接目镜和物镜的部件. 3 . 物镜转换器: 用于安装,选择不同倍数的物镜. 4 . 载物台: 放置薄片用的可3600转动的圆形平台 5 . 焦准设备 升降系统 : 分粗调和微调.调节焦距. 6 . 聚光镜架:连接聚光镜,下偏光镜,上锁光圈等的部件 7 . 上,下锁光圈: 控制光的通过量. 一. 偏光显微镜的构成 二 . 光学系统主要部件 1 . 光源: 分为自然光源和人工光源. 2 . 下偏光镜: 在聚光镜架底部,作用是把自然光转变为偏光. 3 . 聚光镜:在聚光镜架上部. 作用是把偏光转变为锥光. 4 . 物镜: 由多组透镜组成,连接在物镜转换器上,是决定放大 倍 数及成像质量的重要部件.按放大倍数分为三类: 高倍镜 40? 100 ? 中倍镜 10 ? 20 ? 低倍镜 2.5? 4 ? 有关术语:前透镜,后透镜,孔径角,数值孔径 一. 偏光显微镜的构成 二 . 光学系统主要部件 5 . 目镜:由眼透镜和场透镜组成.目镜中附有十字丝.倍数 有10 ?和8 ?两种. 6 . 上偏光镜: 位于目镜和物镜之间.振动方向与下偏光镜 振动方向垂直.可自由的推入或拉出. 7 . 勃氏镜:位于目镜和上偏光镜之间,可自由的推入或出, 与聚光镜和高被镜配合使用. 三 . 附件 必备附件:石膏试板 ? , 云母试板 ?/4 ,石英楔 1-3级 二.偏光显微镜的调节与校正 1 . 选择并装配物镜和目镜. 2 . 焦准. 3 . 物镜中心的校正. 4 .下偏光镜的检查. 5 .上偏光镜的检查 三.偏光显微镜的养护 P40 第二章 偏光显微镜 第三章 单偏光系统下晶体的光学性质 单偏光系统的构成 在只使用下偏光镜 起偏镜 的情下， 观察和测定矿物的光学性质的系统。 单偏光系统的光路图 附图说明） 单偏光系统光波通过晶体的光路图 其它切面: PP与晶体光率体椭圆半径之一平行 均质体或非均质体垂直光轴切面 下偏光镜 P P 下偏光镜 晶体切片 P P 下偏光镜 晶体切片 P P 晶体切片 下偏光镜 其它切面: PP与晶体光率体椭圆半径斜交 主要内容 矿物的直观（外表）特征 （形态、解理等） 与矿物吸收性有关的光学性质: （颜色、多色性、吸收性等） 与矿物折射率有关的光学性质 （突起、闪突起、 糙面、边缘、贝克线、色散线等） 一. 矿物的形态 1 控制因素： 矿物成分,内部结构,物化条件,晶出顺序. 2 观察内容： a.自形程度：自形晶,半自形晶,它形晶. b.单体形态：粒状,针状,板（条）状、柱状、片状 c.集合体形态：纤维状,放射状,球粒状,网状,交生状,雏晶状 3 观察方法 综合不同切面特征,正确判断矿物的单体形态 一. 矿物的形态 同一单体不同切面形态示意图 二. 解理及解理夹角 解理在薄片中的表现形式 沿一定的方向平行排列的细缝 解理缝 。缝中为树胶所充填，因矿物的折射率与树胶不同而使解理缝得以显现。 解理等级的划分 1 极完全解理：解理缝细而密集,贯穿整个晶体。 2 完全解理：解理缝清楚，缝较稀，不完全贯穿晶体。 3 不完全解理：解理缝宽而稀疏,不清楚,断续通过晶 注意解理与矿物裂纹的区别 二. 解理及解理夹角 影响解理缝清晰程度的因素 1 矿物解理的完善程度。 2 切片的方向。 3 矿物折射率和加拿大 树胶折射率差值。该 差值决定了解理缝的 可见临界角。 a b a α 解理缝宽度与切片方向变化示意图 判断解理等级和组数时, 注意综合观察多种切片. 二. 解理及解理夹角 解理夹角的测定 1、切片方向的选择 A C B D E H F G K 60 ＞60 ＜60 选择同时垂直两组解理面的切片。 特征是两组解理缝最细最清楚，当解理缝平行目镜十字丝时，微微升降镜筒，两组解理缝不左右移动。 二. 解理及解理夹角 解理夹角的测定 2、解理夹角的测定步骤 （1）选择颗粒，置于视域心； （2）转动物台使一组解理缝平行目镜十字丝纵丝 图A ，读取此时载物台刻度盘上的度数a； （3）再转动物台，使另一组解理缝平行目镜十字 丝纵丝，读取此时载物台刻度盘上的度数b； 图B , a与b之差即为所测解理夹角。 二. 解理及解理夹角 解理夹角的测定 2、解理夹角的测定