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第三篇 常用无损检测技术 第15章 射线照相检测技术 15.1射线照相检测技术概述（Ⅱ级人员仅要求本节内容） 射线是具有可穿透不透明物体能力的辐射，包括电磁辐射（X射线和γ射线）和粒子辐射。在射线穿过物体的过程中，射线将与物质相互作用，部分射线被吸收散射 图15-1 射线照相检测技术基本原理 图15-2 光电效应示意图 射线照相检验技术可应用于各种材料金属材料非金属材料和复合材料各种产品的检验检验技术对被检工件的表面和结构没有特殊要求检验原理决定了这种技术最适宜检验体积性缺陷，广泛应用于航空、航天、船舶、电子、兵器等工业领域射线检测技术直观显示评定检测结果提供客观依据I I0e-μT （15—1） 式中：I0—入射射线强度； I—为透射射线强度； T—为吸收体厚度； μ—射线的线衰减系数。 这就是单色窄束射线的衰减规律，也称为射线衰减的基本规律。这个公式指出，射线穿过物体时的衰减程度与射线本身的能量、所穿透的物体厚度相关。理论上有由 μ ρμm （15—2） μm≈KZ3λ3 （15—3） μm称为质量衰减系数，ρ是吸收体的密度，是射线的波长，是吸收体物质的元素的原子序数，为一常系数。它们具体说明了线衰减系数与射线能量、吸收体性质的关系。 在实际应用中，常引入半值层（厚度）描述吸收体对一定能量射线的衰减。半值层是指使射线的强度减弱为入射射线强度值的 1/2的物体厚度