《现代方法》练习与修改摘要.doc

一、选择题 1.用来进行晶体结构分析的X射线学分支是（?? ） A.X射线透射学；B.X射线衍射学；C.X射线光谱学； X射线X射线X射线X射线 X射线X射线X射线X射线，与它对应的正空间晶面是（ ）。 A. （210）；B. （220）；C. （221）；D. （110）；。 2.有一体心立方晶体的晶格常数是0.286nm，用铁靶Kα（λKα 0.194nm）照射该晶体能产生（ ）衍射线。 A. 三条； B .四条； C. 五条；D. 六条。 3.一束X射线照射到晶体上能否产生衍射取决于（ ）。 A．是否满足布拉格条件；B．是否衍射强度I≠0；C．A+B；D．晶体形状。 4.面心立方晶体（111）晶面族的多重性因素是（ ）。 A．4；B．8；C．6；D．12。 填空题 倒易矢量的方向是对应正空间晶面的 ；倒易矢量的长度等于对应 。 只要倒易阵点落在厄瓦尔德球面上，就表示该 满足 条件，能产生 。 影响衍射强度的因素除结构因素、晶体形状外还有 ， ， ， 。 考虑所有因素后的衍射强度公式为 ，对于粉末多晶的相对强度为 。 结构振幅用 表示，结构因素用 表示，结构因素 0时没有衍射我们称 或 。对于有序固溶体，原本消光的地方会出现 。 选择题 1.最常用的X射线衍射方法是（ ）。 A. 劳厄法；B. 粉末多法；C. 周转晶体法；D. 德拜法。 2.德拜法中有利于提高测量精度的底片安装方法是（ ）。 A. 正装法；B. 反装法；C. 偏装法；D. A+B。 3.德拜法中对试样的要求除了无应力外，粉末粒度应为（ ）。 A. 325目；B. 250目；C. 在250-325目之间；D. 任意大小。 4.测角仪中，探测器的转速与试样的转速关系是（ ）。 A. 保持同步1﹕1 ；B. 2﹕1 ；C. 1﹕2 ；D. 1﹕0 。 5.衍射仪法中的试样形状是（ ）。 A. 丝状粉末多晶；B. 块状粉末多晶；C. 块状单晶；D. 任意形状。 填空题 在粉末多晶衍射的照相法中包括 、 和 。 德拜相机有两种，直径分别是 和Φ mm。测量θ角时，底片上每毫米对应 o和 o。 衍射仪的核心是测角仪圆，它由 、 和 共同组成。 可以用作X射线探测器的有 、 和 等。 影响衍射仪实验结果的参数有 、 和 等。 选择题 1.测定钢中的奥氏体含量，若采用定量X射线物相分析，常用方法是（ ）。 A. 外标法；B. 内标法；C. 直接比较法；D. K值法。 2. X射线物相定性分析时，若已知材料的物相可以查（ ）进行核对。 A. Hanawalt索引；B. Fenk索引；C. Davey索引；D. A或B。 3.德拜法中精确测定点阵常数其系统误差来源于（ ）。 A. 相机尺寸误差；B. 底片伸缩；C. 试样偏心；D. A+B+C。 4.材料的内应力分为三类，X射线衍射方法可以测定（ ）。 A. 第一类应力（宏观应力）；B. 第二类应力（微观应力）；C. 第三类应力；D. A+B+C。 5.Sin2Ψ测量应力，通常取Ψ为（ ）进行测量。 A. 确定的Ψ角；B. 0-45o之间任意四点；C. 0o、45o两点；D. 0o、15o、30o、45o四点。 填空题 在Δθ一定的情况下，θ→ o，Δsinθ→ ；所以精确测定点阵常数应选择 θ。 X射线物相分析包括 和 ，而 更常用更广泛。 第一类应力导致X射线衍射线 ；第二类应力导致衍射线 ；第三类应力导致衍射线 。 X射线测定应力常用仪器有 和 ，常用方法有 和 。 X射线物相定量分析方法有 、 、 等。 选择题 1.若H-800电镜的最高分辨率是0.5nm，那么这台电镜的有效放大倍数是（ 4*10-5 ）。 A. 1000；B. 10000；C. 40000；D.600000。 2. 可以消除的像差是（ ）。 A. 球差；B. 像散；C. 色差；D. A+B。 3. 可以提高TEM的衬度的光栏是（ ）。 A. 第二聚光镜光栏；B. 物镜光栏；C. 选区光栏；D. 其它光栏。 4. 电子衍射成像时是将（ ）。 A. 中间镜的物平面与与物镜的背焦面重合；B. 中间镜的物平面与与物镜的像平面重合；C. 关闭中间镜；D. 关闭物镜。 5.选区光栏在TEM镜筒中的位置是（ ）。 A. 物镜的物平面；B. 物镜的像平面C. 物镜的背焦面；D. 物镜的前焦面。 填空题 TEM中的透镜有两种，分别是 物镜 和 目镜 。 TEM中的三个可动光栏分别是 第二聚光镜光栅 位于 第二聚光镜下方焦点位置 ， 物镜光栅 位于 物镜后焦面上 ， 选区光栅 位于 物镜像平面位置 。 TEM成像系统由 物镜 、 中