存储器实验实验告1.docVIP

存储器实验课程：：实验名称： 实验日期：2011年 11月 16日 实验成绩： 批阅教师签字： 一、实验目的 了解地址寄存器（AR）中地址的读入 了解STOP和STEP开关的状态设置 了解向存储器RAM中存入数据的方法 了解从存储器RAM中读出数据的 二、实验1、TDN－CM＋组成原理实验仪一台 2、导线若干 3、静态存储器：一片6116（2K*8）芯片 地址锁存器（74LS273） 地址灯AD0－AD7 三态门（74LS245） 三、实验原理 实验所用的半导体静态存储器电路原理如图所示， 实验中的静态存储器由一片6116（2K*8）芯片构成，其数据 线接至数据总线，地址线由地址锁存器（74LS273）给出。 地址灯AD0－AD7与地址线相连，显示地址线状况。数据开关 经一个三态门（74LS245）连至数据总线，分时给出地址和 数据。 实验时将T3脉冲接至实验板上时序电路模块的TS3相应插孔 中，在时序电路模块中有两个二进制开关“STOP”和“STEP”，将 “STOP”开关置为“RUN”状态、“STEP”开关置为“EXEC”状态时，按 动微动开关START，则TS3端输出连续的方波信号当“STOP”开 关置为RUN状态，“STEP”开关置为“STEP”状态