数字化综合实验(罗文).docVIP

姓名：罗文 学号：PB0座机电话号码 11系 数字化综合实验（2） 预习报告： 实验目的： 普克尔盒双折射晶体的光轴的确定； 验证偏振光中的普克尔效应 测量普克尔盒的半波电压 实验概述 当自然光射到一些特殊的晶体表面时，会被分解成两束光，一束叫寻常光（O光），符合普通的折射定律，另一束则不符合，叫非常光（e光）。其折射率n0和ne合称为晶体的主折射率。LiNbO3在强电场作用下能够变成双折射物质，由于o光、e光在晶体内的速度不同，通过晶体后，两光间产生相位差。进而在屏幕上出现干涉图样。随电压的改变，干涉条纹将发生移动，双曲线通过中心移向另外的线系，并可由此得到半波电压。 3、实验装置及调试 光学元件的布置 细调 电连接 4、实验步骤： 1）验证双折射 观测开始时干涉图中双曲线系的位置和普克尔盒基准点的位置 慢慢改变普克尔盒基点位置，描述干涉图样的改变，并回答： 第一双曲线系的实轴是否总平行于晶体的光轴（以基点的方向表示）？ 屏幕最亮和最暗时，光轴和检偏器的夹角值为多少，为什么？ 2）验证普克尔效应 将普克尔盒的基点旋回至起始位置（相对检偏器+-45） 缓慢升高电压U（不超过2KV），观测干涉图的改变 将电压降至0V，高压电源的正插座与地端相连，普克尔盒的连接反向 再次升高电压U（不超过2KV），观测干涉图的改变 回答问题： 随着电压的改变，一个线系的曲线通过中心移向另外的线系，为什么？ 测定半波电压 电压设为0V，用一绿色的笔在纸上描出干涉图样的暗条纹。 缓慢升高电压，记录下干涉的明、暗条纹恰好和纸上的记录符合时的电压值（即半波电压值），并求出平均值。 实验数据处理： 改变基点位置，干涉图样随基点顺（逆）时针转动 第一双曲线系的实轴平行于晶体的光轴（以基点的方向表示） 屏幕最亮时，光轴和检偏器的夹角值为0；屏幕最暗时，光轴和检偏器的夹角值为90℃。 产生这种现象的原因是普克尔盒可以看作一个起偏器，当入射光通过它时，形成了线偏振光，根据马吕斯定律：，即线偏振光通过检偏器后透射光强随起偏器与检偏器之间形成的角度改变而改变。由公式易知当 0时，屏幕最亮；当 90℃时，屏幕最暗。 2、将普克尔盒的基点旋回至起始位置（相对检偏器+-45），缓慢升高电压U（不超过2KV），观测干涉图的改变如下： 即一个线系的曲线通过中心移向另外的线系。 将电压降至0V，高压电源的正插座与地端相连，普克尔盒的连接反向 再次升高电压U（不超过2KV），观测干涉图的改变为 与第一个干涉图的变化相反。 3、缓慢升高电压，记录下的全波电压值为 1 2 3 4 U/KV 1.4 1.4 1.4 1.4 则半波电压值为 U （U1+U2+U3+U4）/（4*2） 0.7KV