JB4730.3-2005超声波标准和ASME标准对照重点.docVIP

JB/T4730-2005 《承压设备无损检测》ultrasonic [?ltr?′s?nik] 标准修改介绍以及与ASME标准对比 JB/T 4730.3-2005标准条款及技术内容 .2 承压设备.2.1 范围 本条适用于承压设备ASME规定：操作方法包括用直射波和斜射波技术对大型锻件作接触脉冲回波式超声波检验程。直射波法包括DGS（距离—增益—当量）法。 JB4730对适用范围作了限定，ASME没有那么明确。 JB/T 4730.3-2005标准条款及技术内容 .2.2 探头 双晶直探头的公称频率应选用5MHz。探头晶片面积不小于150mm2；单晶直探头的公称频率应选用2～5MHz，探头晶片一般为φ14～φ25mm。 主要修改内容： ① 探头 2005版增加了有关探头的内容，即双晶直探头的公称频率应选用5MHz。探头晶片面积不小于150mm2；单晶直探头的公称频率应选用~5MHz，探头晶片一般为φ14mm~φ25mm。ASME规定：对于直射波扫查可采用换能器的最大有效面积为650mm2，其最小尺寸为20mm，最大为30mm。对于斜射波扫查，可采用换能器的尺寸从13×25mm至25×25mm。 换能器应使用其标频率。 可以采用其它探头来评定和精确测定显示信号。 如有可能，直射波的检验宜采用标称频率为2.25MHz的探头。但是，对于粗晶粒奥氏体材料和长距离探测最好采用1MHz频率，在很多情况下，检验粗晶粒的奥氏体材料，甚至可能要采用0.4MHz频率。为了得到更好的分辨力、穿透力或缺陷的检出力，也可采用其它频率。 ASME没有规定双晶探头。 JB4730规定直探头晶片尺寸为φ14mm~φ25mm，而ASME则为φ20~φ30mm。JB/T 4730.3-2005标准条款及技术内容 .2.3 试块 应符合3.5的规定。 4.2.3.1 单直探头标准试块 采用CSⅠ试块，其形状和尺寸应符合图4和表4的规定。 4.2.3.2 双晶直探头试块 a) 工件检测距离小于45mm时，应采用CSⅡ标准试块。 b) CSⅡ试块的形状和尺寸应符合图5和表5的规定。 4.2.3.3 检测面是曲面时，应采用CS Ⅲ标准试块来测定由于曲率不同而引起的声能损失，其形状和尺寸按图6所示。 主要修改内容： ① 试块 1994版：试块应采用CS1和CS2试块，也可自行加工，其形状和尺寸应按表8-4和图8-4的规定。 2005版：采用CSI试块，其形状和尺寸应符合图4和表4的规定。 解释：2005版取消了1994版规定的CS1和CS2试块，并把1994版表8-4和图8-4规定的试块作为CSI标准试块。CS1试块Φ2、Φ3、Φ4、Φ6、Φ8声程50mm、75mm┈250mm共26块。CS２试块Φ2、Φ3、Φ4、Φ6、Φ8声程50mm、75mm┈250mm、500mm共66块。CSI试块为Φ2平底孔试块，共有4块，平底孔深度分别为50mm、100mm150mm和200mm。试块数量大大减少。 国外标准的对应条款及技术内容，技术差异的简要评述 【1】对应条款：ASME2004-SA388-4.4, 4.5 【2】相关技术内容: ASME规定：校准设备时，应采用具有平底孔的参考试块。当合同或订货单有规定时，可用于确定直射波检验的记录水平。 当订单或合同有规定时，可采用与所用的探头和仪器相配的DGS面板来确定直射波检验的记录灵敏度水平。所选用的DGS面板的范围必须包括所要检验的锻件整个厚度截面。 （1）JB4730规定有一整套试块，而ASME则没有明确规定试块对锻件的超声检测，我国标准与欧美标准的最大区别在于：我国习惯于用试块法或当量计算法而欧美则常用DGS面板曲线。 JB/T 4730.3-2005标准条款及技术内容 .2.4 检测时机 检测原则上应安排在热处理后，孔、台等结构机加工前进行，检测面的表面粗糙度Ra≤6.3μm。 国外标准的对应条款及技术内容，技术差异的简要评述 【1】对应条款：ASME2004-SA388-6.2, 7.1.2 【2】相关技术内容: ASME规定：除了在订货单或合同中另有规定，或是在锻件的图纸中另有标明以外，加工后的表面粗糙度不应超过6μm。 超声检验应在改善机械性能的热处理（不包括消除应力的处理）之后进行，但应在钻孔、开槽、车斜度或加工外部轮廓之前进行。如果要求作机械性能热处理的锻件外形使锻件在处理之后不能作全面完整的检验，可允许在机械性能热处理之前进行检验。在这种情况下，锻件在热处理之后仍应尽可能完整地重新进行超声检验。 JB/T 4730.3-2005标准条款及技术内容 .2.5 检测方法 4.2.5.1 一般原则 锻件应进行纵波检测，对筒形和环形锻件还应增加横