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单片机应用技术考试试题(二) （本试题分笔试题和操作题两部分。共100分，考试时间120分钟。） 第一部分 笔试题 （本部分共有4大题，总分60分，考试时间60分钟，闭卷） 第二部分 操作题 题目要求：请参考下面的A/D转换程序，根据实训电路板设计温度测试程序，完成下面问题。 ORG 0000H AJMP MAIN ORG 0003H AJMP INT0 MAIN：MOV R0，#70H MOV R2，#08H SETB IT0 SETB EA SETB EX0 MOV DPTR，#7FF8H MOV A，#00H LOOP：MOVX @DPTR，A MOV A，R2 HERE：JNZ HERE CLR EX0 SJMP $ INT1：MOVX A，@DPTR MOV @R0，A INC DPTR INC R0 MOVX @DPTR，A DEC R2 MOV A，R2 RETI 1、实训电路中的晶振为（ ）HZ。 2、0809ADC的工作频率是（ ），时钟信号从（ ）得到。3、在单片机实训板电路中ADC0809，请问： （1）通道IN5的地址为（ ）。 （2）控制ADC0809启动的指令是（ ）； （3）从AD0809中读取转换后的数据指令是（ ）。 4、在实验箱上按要求连接该温度检测电路。 5、编制程序并进行调试，要求将上面程序的中断结构改为延时方式，并将转换结果分别存到单片机外部RAM的0000H～0004H单元中。 单片机应用技术试题参考答案及评分标准(二) 第一部分 笔试题 （本部分共有4大题，总分60分，考试时间60分钟，闭卷） 一、填空题（每空1分，共20分） 1、128B，ROM 2、直接寻址，变址寻址，位寻址 3、SP，先，后 4、BCD 码调整指令，加法。 5、P0口，P2口，P0口 6、3，256B 7、0.3V 8、1031H 9、62H, 30H单元 10、99H 二、选择题（每空1分，共10分） 1、C 2、B 3、C,A、B、D 4、C 5、D、 6、D 7、C、 8、A 9、D 10、C、 三、简述题（每题4分，共16分） 1、为访问内/外部程序存储器控制信号。 （1分）高电平时，对ROM的读操作先从内部4KB开始，当地址范围超出4KB时自动切换到外部进行； （ 2分） 当 为低电平，对ROM 的读操作限定在外部程序存储器。 （1分） 2、位地址7CH只能存放1位二进制数，字节地址7CH存放8位二进制数。（2分） 位地址7CH在片内部2FH单元第4位。 （2分） 3、80H （2分） 50H （2分） 4、最大定时=（M-T0初值）×时钟周期×12 （2分） =（216-0）×1/6×12 （1分） =131072μm （1分） 四、分析题（每空1.5分，共14分） T1的中断入口 ，中断 ，设定T1的工作方式，07H，8，启动定时器T0工作， 原地踏步，T0，第2位，09H 第二部分 操作题 （本部分共有1大题，总分40分，考试时间60分钟） 题目要求：请参考下面的A/D转换程序，根据实训电路板设计温度测试程序，完成下面问题。 1、6HZ。