Atomic Force Microscopy .docVIP

原子力顯微鏡 Atomic Force Microscopy 一、原子力顯微鏡(AFM)之原理與範圍: AFM是利用探針尖端與試片表面的作用力，即凡得瓦力相吸或相斥的作用力，使得探針懸臂產生彎曲偏移。藉由試片表面掃瞄過程中，即時紀錄掃瞄裝置 於懸臂上下偏移過程所進行的高度回饋量，進而產生樣品表面形貌的影像。AFM 幾乎不受成像環境的限制，不論是在大氣、真空或者是液面下皆能操作，且分析的樣品不限定是導體。 掃瞄尺寸：90μm ﹡90μm ﹡6μm。樣品直徑：6”以內。 二、儀器設備說明: 購置年限：2003年3月 廠牌及型號：Digital Instrument ( NS3a controller with D3100) 三、本中心原子力顯微鏡服務項目: Tapping Mode AFM、Contact Mode AFM 四、送樣之注意事項: 表面盡量避免汙染，減少塵粒的沾附，應保持試片新鮮乾淨。 試片準備以不超過2星期為宜。 五、收費辦法及標準: 儀器使用費：1200元/小時(不含探針費用)，不滿一小時以一小時計。 六、預約與報到辦法: 1.預約者須詳填申請表(表格請逕自本實驗室入口處取用或貴重儀器實驗室網站上下載))，註明欲測樣品數與借用時段，並自行註記於本實驗室公佈之登記表上。 2.請於借用時段前，攜帶磁片(只接受空白磁片或光