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DZ IZ RL UO UI R I IO + _ + _ IZ(min)≤IZ≤IZM 稳压管正常工作的条件: (2) 限流电阻计算 输出电压稳定的条件: (保证稳压管被击穿) DZ IZ RL UO UI R I IO + _ + _ UO=UZ 图中: IZ = I-IO 由上式,可知: 此时,当IO为最小值IO(min)时,IZ值最大。 当UI为最大值UI(max)时,I值最大; DZ IZ RL UO UI R I IO + _ + _ 为保证电路正常工作,应使: 由此可得: DZ IZ RL UO UI R I IO + _ + _ 同理,为保证电路正常工作,应使: 由此可得: DZ IZ RL UO UI R I IO + _ + _ 综上,可得: 思 考 题 1. 在图示稳压电路中,输出电压稳定的条件是什么? 2. 在图示稳压电路中限流电阻的大小对电路性能有何影响? DZ IZ RL UO UI R I IO + _ + _ 作 业 作业: 题:3.4.6、3.4.9 要求: 3.4.6中, 要求写出简要的分析步骤(标出:二极管阳,阴极的 电位); 在外电场作用下,空穴吸引价电子按一定方向移动填补空穴,同时,在移动后的价电子位置产生新的空穴, 如此继续下去,可得到定向移动的空穴,从而形成空穴电流 拉走价电子,形成空穴,相当于源源不断的提供空穴 考虑反向更合适 对于正偏pn结,当外加偏压增大时,注入n区的空穴增加,在n区的空穴扩散区内形成空穴积累,为保持电中性条件,扩散区内电子浓度也相应增加。电子注入p区情形类似, 半波整流电路 首先断开二极管,再分析其两端电压大小~ 动画先播放开头,然后停住分析可能将要发生的变化,再播放动画。 通过串联就可获得更多的稳定电压 ; 击穿电流大于最大稳定电流,但这种情况下二极管会过热损坏,击穿电流小于最小稳定电流则稳压管无法击穿,无法达到稳压作用; 稳压管适应的输入电压范围较窄,而且不能调整输出电压。 静态电阻非常大,一般可认为无穷大; 静态电阻非常大,稳定电压UZ为定值; 静态电阻非常大 静态电阻非常大 静态电阻非常大 二极管按结构分三大类: (1) 点接触型二极管 PN结面积小,结电容小,用于检波和变频等高频电路 二极管按材料分二大类:硅二极管和锗二极管 (2) 面接触型二极管 PN结面积大,用于工频大电流整流电路 (3) 平面型二极管 用于集成电路制造工艺中。PN 结面积可大可小,用于高频整流和开关电路中。 半导体二极管实物 半导体二极管的型号 国家标准对半导体器件型号的命名举例如下: 2AP9 用数字代表同类器件的不同规格。 代表器件的类型,P为普通管,Z为整流管,K为开关管。 代表器件的材料,A为N型Ge,B为P型Ge, C为N型Si, D为P型Si。 2代表二极管,3代表三极管。 半导体二极管的伏安特性曲线 硅:0.5 V 锗: 0.1 V (1) 正向特性 导通压降 反向饱和电流 (2) 反向特性 死区 电压 击穿电压UBR 特性曲线分为三部分:正向、反向和反向击穿特性 u E i V mA u E i V uA 锗 硅:0.7 V 锗:0.2V 小结: 正向特性: 外加正向电压时,存在阻碍二极管导通的死区电压;当正向电压超过该电压值时,二极管导通,此时,正向电流在较大范围内变化,而管子的电压降变化较小。 反向特性: 外加反向电压时,产生由少子漂移形成的反向电流,其特点是受温度影响较大,当反向电压不超过某值时,反向电流大小基本不变(亦称反向饱和电流Is),与反向电压高低无关。 反向击穿特性: 外加反向电压超过UR(反向击穿电压)时,反向电流急剧增大,二极管发生击穿。 PN结击穿可分为:雪崩击穿、齐纳击穿(击穿过程可逆)和热击穿(不可逆) 1.2.3 温度对半导体二极管特性的影响 1. 当温度上升时,死区电压、正向管压降降低。 △uD/ △T = –(2~2.5)mV/ °C 2. 温度升高,反向饱和电流增大。 即 温度每升高1°C,管压降降低(2~2.5)mV。 即 平均温度每升高10°C,反向饱和电流增大一倍。 1.2.4 二极管的主要参数 (1) 最大整流电流IF (2) 反向击穿电压UBR (3) 反向电流IR 二极管长期连续工作时,允许通过的最大平均电流(防止过热损坏) 二极管反向电流急剧增加时对应的反向电压值称为反向击穿电压UBR (最高允许反向击穿电压一般取实际值的1/2)。 在室温下,在规定的反向电压下的反向电流值。硅二极管的反向电流一 般在纳安(nA)级;锗二极管在微安(?A)级。其值越小,管子单向导电性越好。 (4) 最高工作频率fM fM与结电容有关,当
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