进料检验工艺流程指引A.docVIP

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2016-10-15 发布于江苏
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进料检验工艺流程指引A.doc

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PCB板类进料检验指引文件编号 XF-WI-0001 版次 A.1 生效日期 2012.3.26 页码 1/1 名称：PCB检验规范检查项目说明缺陷类别仪器/方法 CR MA　 MI 1.外观 2.尺寸 3.性能制表：审核：批准：电阻类进料检验指引文件编号 XF-WI-0002 版次 A.1 生效日期 2012.3.26 页码 1/1 名称：电阻检验规范检查项目说明缺陷类别仪器/方法 CR MA　 MI 外观 2.尺寸 3.性能标示模糊、色环不清缺损，引脚（焊接端）氧化规格型号与资料不符合封装尺寸不符合引脚间距不符合电阻值不符合要求电阻开路、短路可调电阻阻值变化不均匀可调电阻调节时磨擦声大可调电阻调节时不顺畅焊盘或引脚氧化不易上锡 ˇ ˇ ˇ ˇ ˇ ˇ ˇ ˇ ˇ ˇ ˇ 目视目视目视卡尺卡尺万用表万用表万用表手动手动烙铁注意事项： 1.检验时必须戴好防静电环。 2.检验时参照样品资料。制表：审核：批准：二极管类检验指引文件编号 XF-WI-0003 版次 A.1 生效日期 2012.3.26 页码 1/1 名称：二极管检验规范检查项目说明缺陷类别仪器/方法 CR MA MI 外观尺寸 3.性能 1.破损、引脚变形 2.极性标示模糊 3.规格型号与资料不符合 1.封装尺寸不符合 2.引脚间距不符合 1.极性与标示相反 4.击穿、开路 5.焊盘或引脚氧化不易上锡 ˇ ˇ ˇ ˇ ˇ ˇ ˇ ˇ 目视目视目视卡尺卡尺万用表万用表烙铁注意事项： 1.检验时必须戴好防静电环。 2.检验时参照样品。制表：审核: 批准：电容类进料检验指引文件编号 XF-WI-0004 版次 A.1 生效日期 2012.3.26 页码 1/1 名称：电容检验规范检查项目说明缺陷类别仪器/方法 CR MA MI 1.外观 2.尺寸 3.性能 1.外胶套松脱、破损、标示模糊 2.缺损，引脚变形 3.规格型号与资料不符合 1.封装尺寸不符合 2.引脚间距不符合 1.电容值不符合要求 2.焊盘或引脚氧化不易上锡 ˇ ˇ ˇ ˇ ˇ ˇ ˇ ˇ 目测目测目测卡尺卡尺万用表万用表注意事项： 1.检验时必须戴好防静电环。 2.检验时参照样品。制表：审核：批准：文件编号 XF-WI-0005 版次 A.1 生效日期 2012.3.26 页码 1/1 名称：三极管检验规范检查项目说明缺陷类别仪器/方法 CR MA MI 外观尺寸 3、性能 1、破损、标示模糊 2、引脚变形 3、规格型号资料不符合 1、封装尺寸不符合 2、引脚间距不符合 1、引脚极性不符合 2、极间击穿、开路 3、引脚氧化不易上锡 ˇv v ˇ ˇ ˇ ˇ ˇ ˇ 目测目测目测卡尺卡尺万用表万用表烙铁注意事项： 1.检验时必须戴好防静电环。 2.检验时参照样品资料。三极管类检验指引制表：审核：批准： LED灯进料检验指引文件编号 XF-WI-0006 版次 A.1 生效日期 2012.3.26 页码 1/1 名称：LED灯检验规范检查项目