组件EL测试培训解析.pptxVIP

组件EL测试培训冷传全EL检测原理EL检测仪，又称太阳能组件电致发光缺陷检测仪，是跟据硅材料的电致发光原理对组件进行缺陷检测及生产工艺监控的专用测试设备。给晶体硅电池组件正向通入1-1.5倍Isc的电流后硅片会发出1000-1100nm的红外光，测试仪下方的摄像头可以捕捉到这个波长的光并成像于电脑上。因为通电发的光与PN结中离子浓度有很大的关系，因此可以根据图像来判断硅片内部的状况。多晶EL良品成像单晶EL良品成像缺陷种类一：黑心片EL照片中黑心片是反映在通电情况下电池片中心一圈呈现黑色区域，该部分没有发出1150nm的红外光，故红外相片中反映出黑心，此类发光现象和硅衬底少数载流子浓度有关。这种电池片中心部位的电阻率偏高。该种类属于低效片的一种。危害：造成热斑引起组件烧毁，组件整体功率下降不良缺陷介绍黑斑片一般是由于硅料受到其他杂质污染所致。通常少数载流子的寿命和污染杂质含量及位错密度有关。黑斑中心区域位错密度107个/cm2，黑斑边缘区域位错密度106个/cm2均为标准要求的1000～10000倍这是相当大的位错密度.危害：组件使用中产生热斑烧毁组件，且导致出厂功率下降。缺陷种类二：黑斑片焊接短路黑片造成原因：一般焊接时收尾处堆锡导致电池片正负极短路。缺陷种类三：黑片来料黑片（全黑/半边黑）造成原因：目前常规硅片为P型片，工艺要求加磷形成PN结。如果硅片错用N型片，依然使用常规加