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第三节 干扰及消除方法（选学） 光谱干扰： 在发射光谱中最重要的光谱干扰是背景干扰。带状光谱、连续光谱以及光学系统的杂散光等，都会造成光谱的背景。 非光谱干扰： 非光谱干扰主要来源于试样组成对谱线强度的影响，这种影响与试样在光源中的蒸发和激发过程有关，亦被称为基体效应。 光源中未离解的分子所产生的带状光谱是传统光源背景的主要来源。 光源温度越低，未离解的分子就越多，背景就越强。 校准背景的基本原则是，谱线的表观强度I1+b减去背景强度Ib。常用的校准背景的方法有校准法和等效浓度法。 等效浓度法：在分析线波长处分别测量含有与不含有被测元素的样品的谱线强度II和Ib，若被测元素和干扰元素的浓度分别为C与Cb，有： 在实验中测得分析线的表观强度为： 真实浓度C为： 1、试样激发过程对谱线的影响 原子或离子在等离子体温度下被激发，激发温度与光源等离子体中主体元素的电离能有关。 等离子区中含有大量低电离能的成分时，激发温度较低。 电离能愈高，光源的激发温度就愈高。 所以，激发温度也受试样基体组成的影响，进而影响谱线的强度。 2、基体效应的抑制 基体效应：由于标准样品与试样的基体组成差别较大。 在实际工作中，常常向试样和标准样品中加入一些添加剂以减小基体效应，提高分析的准确度，这种添加剂有时也被用来提高分析的灵敏度。 添加剂主要有光谱缓冲剂和光谱载体。 直读光谱仪器特点： ? 宽波长范围； ? 多元素快速分析； ? 准确度高； ? 线性范围宽，可分析高含量； ? 狭缝固定，分析元素固定； ? 谱线易漂移； * 三、检测器 原子发射光谱法用的检测方法有：目视法、摄谱法、光电法 1、目视法（看谱法） 用研究观测谱线强度的方法。仅适用于可见光波段。 2、摄谱法 用感光板记录光谱。 3、光电法 利用光电效应将不同波长的辐射能转化成光电流的信号。 目前可应用于光电光谱仪的光电转换元件有两类：光电倍增管、固体成像器件。 * 一、光谱干扰 二、非光谱干扰 二、非光谱干扰 一、光谱定性分析 （一）光谱定性分析的原理 1、光谱定性分析 由于各种元素原子结构的不同，在光源的激发作用下，可以产生许多按一定波长次序排列的谱线组——特征谱线，其波长是由每种元素的原子性质所决定的。通过检查谱片上有无特征谱线的出现来确定该元素是否存在，称为光谱定性分析。 第四节 光谱分析方法 * 2、基本概念 1）灵敏线：指元素特征光谱中强度较大的谱线，通常是具有较低激发电位和较大跃迁概率的共振线。常为原子线（电弧线）或离子线（火花线）。与实验条件有关。 2）共振线：从激发态直接跃迁到基态时所产生的谱线。由最低能级的激发态（第一激发态）直接跃迁到基态时所产生的谱线称为第一共振线。一般也是最灵敏线。与元素的激发程度难易有关。 3）最后线：或称持久线。当待测物含量逐渐减小时，谱线数目亦相应减少，当c接近0时所观察到的谱线，是理论上的灵敏线或第一共振线。 * I 1 2 3 4）分析线：在进行元素的定性或定量分析时，根据试样中被测元素的含量不同 ，可选择不同程度的一条或几条灵敏线作分析用的谱线。 5）自吸线：当由光源中心某元素发出的特征光向外辐射通过发光层周围温度较低的蒸汽原子时，将为其自身处于低能级的原子所吸收，而使谱线强度中心强度减弱的现象。自吸最强的谱线的称为自蚀线。 1、无自吸； 2、自吸； 3、自蚀 * （二）光谱定性分析方法 光谱定性分析一般采用摄谱法。按照分析目的和要求不同，可分为指定元素分析和全部组分元素分析两种。 1、铁光谱比较法（标准光谱图比较法 ） 目前最通用的方法，它采用铁的光谱作为波长的标尺，来判断其他元素的谱线。 铁光谱作标