DF4810晶体测试仪操作说明书.doc

DF4810晶体管测试仪操作说明书 目的 正确指导DF4810晶体管测试仪操作规程的操作、使用、维护保养。 范围 本规程适用于本公司检验/生产过程中使用的DF4810晶体管测试仪操作规程的操作 （图一）前面板单元划分图 （图二）测试台 拟 制 审 核 批 准 日 期 日 期 日 期 示波管及显示电路 辉度（R722） 它是通过改变示波管栅阴之间的电压来改变发射电子的多少来控制辉度，使用的辉度应适中。 聚焦（R720），辅助聚焦（R726） 相互配合调节，使图像清晰。 （图三）示波管及显示部分 Y轴作用 电流/度开关（S201） 它是一种具有22档四种偏转作用的开关。集电极电流IC：0.5uA/div-1A/div共20档，是通过R201-R220集电极电流取样电阻的作用，将电流信号转化为电压信号后，经Y轴作用放大后取得读测电流偏转值。相互配合调节，使图像清晰。 二极管漏电流IR0.05uA/div-1uA/div共五档，是通过R221-R225二极管漏电流取样电阻将电流转化为电压，经Y轴作用的放大而取得读测电流的偏转值。 基极电流或基极电压，有阶梯取得电阻R466,R226分压，经方法而取得基极电流偏转值。 外接输入。 Y轴方式开关S201，用“+”“-”极性测量，接地时配合S104可进行放大器的敏感度校准。 移位（R116），使被测信号或集电极扫描线在Y轴方向移动。 增益（R120），用以放大器放大量的校准。 拟 制 审 核 批 准 日 期 日 期 日 期 （图四）Y轴作用选择 X轴作用 电压/度开关（S201） 它是一种具有22档地中偏转作用的开关。集电极电压Vc：10mV/div-50V/div共12档，是通过R301-R312,R322-R333分压电阻，已达到不同灵敏度的偏转目的，当开关置500V/div时，可进行5KV内二极管反向二极管反向电压的测试。 基极电压VBE：10mV/div-1V/div共7档，通过R313-R319分压，以达到不同灵敏度的偏转目的。 基极电流或基极源电压，由阶梯取样电阻R467,R320分压，经放大器而取得基极电流偏转值。 外接输入。 X方式开关S102, 用“+”“-”极性测量，接地时配合S104可进行放大器的敏感度校准。 移位（R154），使被测信号或集电极扫描线在X轴方向移动。 增益（R159），用以放大器放大量的校准。 拟 制 审 核 批 准 日 期 日 期 日 期 集电极电源 峰值电压范围S602,通过自藕变压器T601调节和集电极电源变压器T602高压变压器T603次级各组电压整流后分出0-10V（5A），0-50V（1A），0-100V（0.5A），0-500V（0.1A），0-5KV（5mA），0-500V（AC），6档。观察晶体管的特性时，必须先将峰值电压T601调至0值，再按需要调节输出电压，以避免损坏被测晶体管。 0-500V（AC）档的设置专为二极管或其他测试提供双向扫描，能方便的同时显示二极管的正反向特性曲线。 0-5KV档，可对二极管0-5KV内进行反向耐压测试。 极性S601开关可以转换集电极电压的正负极，以便NPN和PNP型晶体管的测试。 峰值电压T601 通过峰值电压调节，可以使输出电压的峰值在0-5V/0-50V/0-100V/0-500V/0-5KV之间变化，面板上的标称值只作近似值所用，精确的读书应由X轴偏转灵敏度读测。 功耗限制电阻（S603） 它是串接在被测管的集电极电路上限制超过功耗，也可作为被测半导体集电极的负载电阻，通过图示仪的特性曲线簇的斜率，可选择合适的负载电阻阻值。 电容平衡R608 由于集电极电流输出端对地的各种杂散电容的存在，将形成电容性电流，因而在取样电阻上产生电压降，造成测量上的误差，为了测量的精确，可通过R608的调节，使容性电流减至最小状态。 辅助电容平衡是针对集电极变压器T602次级绕组对地电容不对称进行调节后，再次进行电容平衡调节。 拟 制 审 核 批 准 日 期 日 期 日 期 阶梯信号 极性S402 极性选用取决于被测半导体器件需要。 极/簇R434 用来调节阶梯信号的级数，在1-10级范围内连续可调。 调零R446 未测试前，应先调整阶梯信号起始级，零点位的位置。当荧光屏上已显示基极阶梯信号后将S503开关置于“零电压”，观察光点停留在荧光屏上的位置，复位后调节“调零”电位器，使阶梯信号的起始级光点仍在该处，这样阶梯信号的“零电位”即被转却校准。 阶梯选择开关是一个具有22档，两种作用的开关。 基极电流0.5uA/级-1