数字电路实验74629new.docVIP

数字电路实验 实验要求： 1. 遵守实验室规则，注意人身和仪器设备的安全。 2. 预习并按规范写好预习报告，否则不能参加实验。 3. 进入实验室后保持安静，对号入座， 4. 将预习报告置于实验桌右上角，待指导教师检查。 5. 完成实验任务后，保持实验现场，报请老师验收。验收时需清楚简练地向老师介绍实验情况、证明自己已完成了实验任务。 6.实验成绩由预习报告、实验效果与实验纪律、独立动手能力、实验报告等综合决定。 实验报告内容要求 1. 实验名称、实验者姓名、实验时间地点和指导教师等。 2. 实验目的与要求。 3. 实验用仪器仪表的名称和型号。 4. 实验电路和测试电路。包括实验所用的器件品种、数目和参数。 5. 实验内容、步骤，在这部分内容中，应用简明的语言或提纲给出实验的具体内容，步骤、记录实验中的原始数据，绘制出根据观察到的波形整理出的图表、曲线，反映在实验中遇到的问题及处理的经过。如对原实验方案进行了调整，则应写出调整方案的理由和调整情况。 6. 实验结果及分析。实验结果是对实验所得的原始数据进行分析计算后得出的结论。可以用数值或曲线表达，实验结果应满足实验任务的要求。 7. 实验小结。总结实验完成的情况，对实验方案和实验结果进行讨论，对实验中遇到的问题进行分析，简单叙述实验的收获、体会等。 8. 参考资料。记录实验进行前、后阅读的有关资料，为今后查阅提供方便。 实验一 TTL与非门参数测试及使用 实验目的 学习TTL和CMOS门电路的逻辑功能测试方法，加深认识TTL与CMOS门电路的电平差异。 通过测试TTL与非门的电压传输特性，进一步理解门电路的重要参数及其意义（包括UOL、UOH、UON、UOFF、UTH、UNL、UNH）。 了解一般的集成门电路器件的常用封装形式和引脚排列规律，掌握使用方法。 熟悉数字实验箱的结构和使用方法。 预习要求 TTL与CMOS门电路的逻辑功能及闲置输入端的处置方法。 电压传输特性曲线及其所表征的主要参数的意义。 设计实验数据纪录表格 实验内容 测试TTL与非门74LS00和CM0S或非门CC4001逻辑功能。 识别72LS00和CC4001的封装及引脚排列。 正确连接测试电路，特别注意直流工作电压的大小和极性。 测试它们的真值表，要求纪录输入高低电平（UIL、UIH）和输出高低电平(UOL、UOH)。 实验TTL和CMOS门电路的输入端悬空对门电路输出的影响。 测试TTL与非门电压传输特性。 正确连接测试电路，特别注意实心电位器的连接，连接错误易损坏电位器。 注意在特性曲线的转折处应适当增加测量点。 正确读取数据并纪录。 实验报告 书写格式要规范，书写认真、字迹清晰。 实验报告内容要齐全 测试的原始数据要真实，不能随意修改原始数据。 绘制TTL门的传输特性曲线，并根据曲线标出UON、UOFF、UTH及UNL、UNH。 实验结果分析与小结 实验二 组合逻辑电路设计 实验目的 学习用小规模集成电路设计组合逻辑电路的方法，进一步掌握组合逻辑电路的分析和设计方法。 学习用中规模集成电路实现组合逻辑函数的方法 学习数字电路实验中查找电路故障的一般方法。 预习要求 组合逻辑电路分析、设计的一般方法。 用译码器和数据选择器实现组合逻辑函数的方法。 画出用译码器74LS138实现半加器的电路图。 实验内容 用与非门实现半加器。 设计、连接电路，并测试电路的逻辑功能。 用译码器74LS138实现半加器（用适当的门电路辅助）。 设计、连接电路，并测试电路的逻辑功能。 若有故障，要求分析、排除故障。 实验报告 实验目的、原理要清楚。 实验电路和测试结果。 故障分析和排除方法。 实验小结 实验三 基本RS触发器和D触发器 实验目的 学习集成触发器的测试方法，通过对触发器功能的测试，深刻理解边沿触发的含义，加深对触发器功能的认识，并学会应用。 理解清零和置1端的作用，正确使用这两个控制端。 了解集成触发器的常见封装形式和引脚排列规律。 预习要求 触发器的一般概念，触发器的分类、功能及触发方式，尤其是边沿触发的含义。 触发器的预置和清零端的作用。 查集成电路手册，了解74LS74双D触发器和74LS112双JK触发器的功能和引脚排列。 自拟实验步骤，预先画出实验接线图。 实验内容 测试74LS74双D触发器的逻辑功。 测试置0置1端的功能。 测试逻辑功能，列出功能表。 观察触发器的计数状态。 测试74LS112双LK触发器的逻辑功能 测试内容同D触发器. 触发器的应用 用74LS74和74LS112组成的异步二进制计数器电