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RT 考试应用 1 .发生光电效应几率的实验近似公式为：τ kρz4λ3，其中K为常数；ρ为（物质密度）；Z为（物质的原子序数）；λ为（射线的波长）射线穿透物质时产生的吸收程度，取决于材料的（原子系数）、（密度）、（厚度）以及射线本身的（波长） 连续Χ射线总强度可用下式表示：I （ηoiZV2），连续Χ射线的转换效率公式为η （ηoZV） .单色窄束射线的半价层厚度约为1/10价层厚度的（0.3）倍；若已知线衰减系数μ，则1/10价层厚度为（2.3/μ） γ射线放射性活度与照射量的关系式为X A·t/KrR2。式中X-（照射量[伦]）；A-（放射性活度[Ci]）；Kr-（照射率常数[mR/h·ci]）；R-（到点源距离[m]）；t-（受照时间[h]） 常用的γ源Kr常数,对于60Co为Kr （1.32）；对于192Ir为Kr （0.472） 照射量的国际单位是 库仑/千克,C/Kg ,专用单位是 伦琴,R ,两者的换算关系是 1库仑/千克≈3.877*103伦琴,1伦琴 2.58*10-4库仑/千克 吸收剂量的国际单位是 戈瑞,Gy ,专用单位是 拉德,rad ,两者的换算关系是 1戈瑞 1焦耳/千克 100拉德,1拉德 10-2戈瑞 剂量当量的国际单位是 希沃特,Sv ,专用单位是 雷姆,rem ,两者的换算关系是 1希沃特 1焦耳/千克 100雷姆,1雷姆 10-2希沃特 剂量当量H是吸收剂量D与 品质因数Q 与 其他修正因数N 的乘积,数学表达式为H DQN ,对Χ射线和γ射线防护而言,由于 有关修正因数为1 ,可以认为吸收剂量与剂量当量 等值 当单色窄束X射线通过厚度为d的物质后，表示射线强度衰减规律的公式为：（I I0e-μd） 射线与物质作用时，最主要的效应是 光电 效应、 散射 效应、 电子对生成 效应 X射线的能量取决于（X射线管电压），而γ射线的能量取决于（γ源的种类 高能射线是能量在（1）兆电子伏特以上的X射线，采用直线加速器产生的高能X射线与一般X射线相比，它具有（穿透能力强）、（焦点小）、（转换效率高）等特点 X射线是利用（高速运动的电子撞击金属靶）的方法产生的，它具有（连续X）线谱和（特征X）线谱，γ射线是利用（放射性同位素物质衰变）的方法产生的，它只具有X射线中的后一种线谱 X射线的能量取决于X光机的（管电压），γ射线的强度取决于（源的种类） 原子核内的（质子）数相同，而（中子）数不同的元素叫做同位素 单色、窄束、强度为I0的X射线通过厚度d的材料后的衰减公式为（I I0e-μd），而对于强度为I0的单色、宽束X射线通过厚度d的材料后的衰减公式为（I 1+n I0e-μd） X射线、γ射线与物质作用时，可产生（光电）效应、（康普顿 或散射 ）效应和（电子对生成）效应，其中（电子对生成）效应只有在光子能量大于（1.02MeV）才会出现 射线的衰减系数与（射线能量）及照射物质的（原子序数）和（密度）有关 吸收剂量当量的单位是（雷姆 Rem ），对于X射线、γ射线，因为修正系数等于（1），故吸收剂量当量值与吸收剂量值是（相同）的 直线加速器的优点是（体积小）和（输出射线强度大），回旋加速器的优点是（焦点尺寸小） 经Χ射线曝光过的胶片包含两种不同类型的粒度：（胶片）粒度和（量子噪声）引起的粒度 产生给定胶片密度所需要的伦琴数随射线能量的增加而（增加）；射线能量高到一定数值，上述伦琴数（基本不变），这就是所谓射线胶片的光谱灵敏度 底片颗粒度的表示为：G σd/α,式中符号意义：σd（密度均方差）；α（扫描点面积） Χ射线能量低于150kV时，由于（吸收系数）变化很快，管电压的选择比较严格；能量在200～400kV时，电压变化约为（30～40）kV才使灵敏度有明显变化；当为2～31MeVΧ射线时，探伤灵敏度（几乎相同） 电离室 型监测仪可用来测量直射线、操作区内的散射线等相当高的照射率；（闪烁计数器）可用来探测曝光室之外的泄漏射线；（胶片剂量计）是最典型的个人照射剂量计，可记录在相当长时间内累积的剂量 对电子加速器产生的Χ射线束，不宜用（铅）或重过滤材料，因在（2～3）MeV时，其质量衰减系数有一最低值 目前常用的中子源有以下三种： 同位素中子源 ； 加速器中子源 ； 反应堆中子源 X射线照相检测时的工艺参数最重要的是 管电压 , 管电流 , 曝光时间 , 焦距 等 用棒阳极射线管透照有剩磁的钢管环焊缝时，（聚焦电子）漂移会造成曝光量不稳定 胶片特性曲线上，某一区域的黑度差没D与（相对曝光量对数的差值）的比值称为该区域的反差系数r 亚硫酸钠在显影液中起（保护）作用；在定影液中起（保护）作用 工业用X光机高压的调节通常是通过（自耦变压器）的调节，改变高压发生器