机电系统计算机控制技术_实验指导书2016讲课.doc

机电系统计算机控制 课程实验指导书 电子科技大学机械电子工程学院 目录 实验一、采样控制实验 3 实验二 二阶PID控制 7 实验三 最少拍控制系统 14 实验一、采样控制实验 一．实验目的 1. 了解判断采样控制系统稳定性的充要条件，及采样周期T对系统的稳定性的影响。 2．掌握控制系统处于临界稳定状态时的采样周期T的计算。 3．观察和分析采样控制系统在不同采样周期T时的瞬态响应曲线。 二．实验原理及装置 1． 判断采样控制系统稳定性的充要条件 线性连续系统的稳定性的分析是根据闭环系统特征方程的根在S平面上的位置来进行的。如果特征方程的根都在左半S平面，即特征根都具有负实部，则系统稳定。 采样/保持控制系统的稳定性分析是建立在Z变换的基础之上，因此必须在Z平面上分析。S平面和Z平面之间的关系是：S平面左半平面将映射到Z平面上以原点为圆心的单位圆内，S平面的右半平面将映射到Z平面上以原点为圆心的单位圆外。 所以采样控制系统稳定的充要条件是：系统特征方程的根必须在Z平面的单位圆内。只要其中有一个特征根在单位圆外，系统就不稳定；当有一个根在Z平面的单位圆上而其他根在单位圆内时，系统就处于临界稳定。也就是说，只要特征根的模均小于1，则系统稳定；若有一个特征根的模大于1，则系统不稳定。当采样周期设定为临界值时出现等幅振荡。 2． 采样周期