锥光系统下晶体的光学性质技巧.pptVIP

0° AP 光轴 AP 光轴 90° 45° AP 锐角区 光轴 135° AP 锐角区 光轴 垂直一个光轴切面干涉图 A B C D (1).确定轴性及切片类型 ( 2V 小于80o ); (2).测定光性符号； (3).测定光轴角大小. 2.垂直一个光轴切面干涉图的应用 垂直一个光轴切面干涉图测定光性符号示意图 光性符号的测定方法 45o Nm Nm (+) (A) 0o位置 (B) 45o位置 (C) 加入检板 Nm (D) 加入检板 (-) 根据垂直光轴切片干涉图中 黑带弯曲程度目估2V大小 2V角的目估方法 单偏光镜下(Nm)=蓝绿色 0° 15° 30° 45° 60° 90° 测量 Nm 颜色 在单偏光镜下,垂直一个光轴的切面的任何方向都是Nm. 黑带弯曲程度与2V大小关系 三. 斜交光轴切面干涉图 1.干涉图特点 相当于垂直Bxa或垂直光轴切面干涉图的某一部分, 图象类型繁多.它们的黑十字和黑臂及干涉色色环都不完整，旋转物台时,黑臂常呈弯曲状扫过视域.可分两种情况： 1.近于垂直光轴和近于垂直Bxa切面的干涉图 2.斜交光轴及光轴面切面的干涉图 近于垂直Bxa切面干涉图随物台转动的变化特点 近于垂直Bxa切面干涉图的特点 光轴 光轴 光轴 光轴 Ap Ap (A) 0o位置 (B) 45o位置 (C) 90o位置 (D) 135o位置 近于垂直光轴切面干涉图的特点 光轴 光轴 Ap Ap (A) 0o位置 (B) 45o位置 (C) 90o位置 (D) 135o位置 近于垂直光轴切面干涉图随物台转动的变化特点 2.二轴晶斜交切面干涉图的应用 （1)确定轴性及切片类型 （2)测定光性符号 垂直一个光轴切面干涉图测定光性符号示意图 光性符号的测定方法 光轴 Ap 光轴 Ap 光轴 Ap 光轴 45o (A) 0o位置 (B) 45o位置 (C) 加入检板 (D) 加入检板 Bxa=Np (-) Bxa=Ng (+) 四.平行光轴面切面干涉图 1.干涉图特征：与一轴晶平行光轴的干涉图相似，也称瞬变干涉图或闪图. (1).当切面的Bxa与Bxo分别平行上下偏光的振动方向时， 视域出现一个粗大模糊的黑十字，几乎充满视域. (2).转动物台小角度（7o -10o ），黑十字迅速分裂为两个双曲线形状黑臂逸出视域，黑臂逸出方向为Bxa方向. (3).转到45o位置时视域最亮，并出现干涉色 若矿片双折射率较大或矿片较厚时，可以看到对称的干涉色带，从中心向外缘，沿Bxa方向上的两个象限，干涉色降低，沿Bxo方向的两个象限干涉色升高. 2.干涉图应用：主要用以确定切面类型,但当轴性已知时,可用来测定光性正负。 四.平行光轴面切面干涉图 干涉图特点 P A P A Bxa Bxo P P A A Bxa A Bxo Nm OA OA (A) 0o位置 (B) 45o位置 (C)波向图 平行光轴面切面不同位置干涉图及波向图 五.垂直钝角等分线(Bxo)切面干涉图 1. 干涉图特征：与垂直Bxa切面干涉图形相似. (1).当光轴与上下偏光振动方向之一平行时，视域中心也是一个两条黑臂粗细不等的黑十字，只是黑十字显得更大而模糊，较粗一条黑臂的方向是 Nm轴的方向，较细的一条黑臂为光轴面迹线的方向，光轴出露点不在视域之内。 (2).转物台10 o -- 35 o角，黑十字很快分裂逸出视域。当光轴迹线在45o位置时，视域全部明亮双折射率很大的矿片，视域中能够见到两对干涉色级序不同、密度不等的双曲线干涉色色环。视域中心为Bxo的出露点，视域中能见到的是两光轴之间的钝角区范围。在45 o 位置时，两个黑臂与光轴出露点都在视域之外，这时只能根据黑臂逸出的方位及视域中干涉色色环分布的情况判断光轴面的迹线（AP）。 只有当能够确定切片类型时，才能用来测定光性正负。 2.垂直 Bxo切面干涉图应用 转动物台， 黑臂逸出的两象限为光轴迹线与光轴出露点的方位，视域中Nm方向上干涉色总是比较高，而光轴迹线方向总是比较低。 1. 垂直 Bxo切面干涉图特征 Bxo A A P P (1).垂直 Bxo切面干涉图00位置 (2).垂直 Bxo切面干涉图450位置 A Nm Bxa A 二轴晶干涉图观测内容 1. 绘图说明白云母? Bxa切面干涉图 特征（11号） ，并测其光性符号， 估计2V。 2. 在（1号）或（4号、5号）矿片中 寻找? OA 及 //Ap切面进行观测. 第五章.锥光系统下晶体的光学性质 第一节. 锥光系统的装置及特点 在正交偏光系统的基础上，加入聚光镜并将其提升到最高位置，换用高倍物镜，推入勃氏镜或去掉目镜，便构成了锥光系统。 (一).锥光系统的装置 (二).加入聚光镜的作