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- 2016-11-21 发布于湖北
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一、概述
半导体PN结的物理特性是物理学和电子学的重要基础内容之一。本仪器用物理实验方法,测量PN结扩散电流与电压关系,证明此关系遵循指数分布规律,并较精确地测出玻尔兹曼常数(物理学重要常数之一),使学生学会测量弱电流的一种新方法。本仪器同时提供干井变温恒温器和铂金电阻测温电桥,测量PN结结电压与热力学温度T的关系,求得该传感器的灵敏度,并近似求得0K时硅材料的禁带宽度。
仪器简介
图1 PN结物理特性测定仪实验装置
FD-PN-4型PN结物理特性测定仪主要由直流电源、数字电压表、实验板以及干井测温控温装置组成,如图1所示。
三、技术指标
1.直流电源:±15V直流电源一组, 1.5V直流电源一组
2.数字电压表:三位半数字电压表量程0—2V ,四位半数字电压表量程 0—20V
3.实验板: 由运算放大器LF356、印刷引线、接线柱、多圈电位器组成。TIP31型三极管外接。
4.恒温装置:干井式铜质可调节恒温,恒温控制器控温范围,室温至80℃;控温分辨率0.1℃;
5.测温装置:铂电阻及电阻组成直流电桥测温0℃()。
四、实验项目
1.测量PN结扩散电流与结电压关系,通过数据处理证明此关系遵循指数分布规律。
2.较精确地测量玻尔兹曼常数。(误差一般小于2%)
3.测量PN结结电压与温度关系,求出结电压随温度变化的灵敏度。
4.近似求得0K时半导体(硅)材料的禁
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