“可靠性与失效析技术案例”讲座.docVIP

“电子元器件可靠性与失效分析案例”技术研讨会的邀请函 08年03、04、05月份举办此内容的研讨会，受到听众的热烈欢迎，为响应众多客户的强烈要求，满足元器件生产与设计企业对产品质量及可靠性方面的需要、解决工程师遇到失效分析与可靠性问题时的疑点和盲区、打破理论与实际脱钩的窘境、达到失效现象与失效原因直接挂钩、提高产品可靠性的效果，我们特决定在全国组织举办此次“电子元器件失效分析与可靠性案例”技术研讨会。 研讨会由具有工程实践和教学丰富经验的讲师主持，通过讲解大量案例,帮助与会者了解电子元器件的失效分析与可靠性的技术手段。具体事宜通知如下： 一、主办单位：上海华碧检测技术有限公司； 苏州中科集成电路设计中心； 协办单位：江苏省集成电路测试服务中心； 二、培训地点、时间: 苏州专场：苏州工业园区国际科技园，1天， 2008年7月26日； 三、培训费用： 培训费：免费；午餐：免费； 资料费：100元/份；彩印资料：180 元/份 （如果不需要资料，资料费可以免除） 请在开班前传真报名或电子邮件传回执表。我们将在开班前2天内寄发《报到通知书》，告知详细地点及行车路线。 四、培训证书：上海华碧检测技术有限公司培训证书（需经考核） 五、课程对象：质量部经理、失效分析工程师、可靠性工程师、质量工程师、设计工程师、工艺工程师、研究员等； 六、师资介绍： 刘学森：高级咨询师、专职讲师，硕士