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快速完成任务： 40分钟内构建自动化测试系统杨千惠NI 资深应用工程师传统测试方法直流偏移量上升时间边沿计数4更智能的设备，更智能的测试系统必须降低测试成本和提升测试速度。5构建更出色的自动化测试系统使用灵活的硬件和可扩展软件降低资本设备成本和系统规模以更低成本部署完整的测试系统，且体积仅为单个传统仪器的尺寸。快速测试开发开发创新性的测试系统，以满足具有挑战性的上市和性能需求。更灵活更快速的测试执行广泛的仪表产品组合与尖端技术相结合，同时采用通用的编程环境 ，以创建自定义的测试解决方案，并降低测试时间。6NI自动化测试系统解决方案TestStand测试管理、测试部署LabVIEWLabWindows?/CVI软件操作系统、驱动程序、服务和硬件抽象PC或嵌入式控制器PXI机箱开关混合信号仪器射频测量硬件连接件/大型互连系统其他软件Measurement Studio、VisualStudio.NET总线接口（GPIB/LXI/串行）7当今的挑战每个待测设备三种测试误码率测试(BERT)LED功能测试信号完整度测试10秒内测试四个UUT40分钟内编程测试模块和测试序列8测试硬件9演示UUT信号滤LED波器比特误码率10预备？321开始!开关开关13开关系统程序框图测试硬件开关硬件待测设备数字万用表示波器8X64矩阵拓扑结构任意波形发生器SMULED高速数字I/O滤波器BERT14开关系统程序框图测试硬件开关硬件待测设备数字万用表BERTBERT示波器8X64矩阵拓扑结构滤波滤波器器LEDLED任意波形发生器SMULEDLED高速数字I/O滤波器滤波器BERTBERT15PXI开关模块基于PXI模块化平台的高密度开关 系统3U PXI插槽内544个通道600伏特40安培26.5 GHz带宽125k开关速度512个交叉点振簧继电器模块PXIe-2532B16Switch Executive智能开关管理软件图形化配置简单的信道混叠自动路由交互式调试面板 简化的ADE集成 +集成TestStand部署集成E17比特误码率测试开关BERT18测试BER生成已知的激励并与预期进行比较响应待测设备1001 0110 0101逻辑1010 0110 1001生成采样数据预期响应 比较 存储故障采集样本数据19硬件比较采集的比特与内存中预期的值进行比较比特误码比特误码内存中预期的数据：H LL H LH H L L H L H101101100001实际采集的数据：20PXI数字波形仪器数字波形仪器是并行数字接口功能测试的理想选择数据延迟和偏斜可编程逻辑电平参数测量200 MHz带PMU的200 MHz数字仪器PXI21场效应晶体管测试开关BERTLED22LED测试测试电源和测量引线两端的压降23PXI源测量单元完整的高电流、高电压、高功率和 高通道密度SMU产品系列1.8 MS/s数字化速率3U PXI插槽内4个通道100 fA灵敏度基于SourceAdapt技术的数字响应 控制扩展的脉冲功能200伏SMUPXI24信号完整度测试开关BERTLED信号完整度25滤波效果测试信号路径的正弦波频率响应频率 (Hz)26PXI任意波形发生器用于高密度测试系统的PXI模块化波形 发生器4U测试机架中包含17个通道16位分辨率动态波形流高达256 MS板载内存16位80 MHz任意波形发生器PXI27PXI示波器PXI模块化示波器在单个4U测试机 架内实现了多达136个通道每个PXI插槽包含1-8个通道基于用户可编程FPGA的可重配置 示波器8 - 24位分辨率达1 GS板载内存1.5 GHz 10位示波器PXI28测试执行测试执行开关BERTLED信号完整度29TestStand测试管理软件图形化开发环境可自动化任意语言编写的测试程序多线程序列执行ASCII、HTML/Web、XML和 ATML报告生成可与Access、Oracle和SQL服务 器数据库连接30开关系统程序框图测试硬件开关硬件待测设备数字万用表BERTBERT示波器8X64矩阵拓扑结构滤波滤波器器LEDLED任意波形发生器SMULEDLED高速数字I/O滤波器滤波器BERTBERT31顺序执行、并行执行和批处理执行? 简单的单待测设备测试夹具? 极其简单的代码结构? 4个单元12个时间块? 多项测试并行执行? 开关可允许硬件共享? 缩短了~30–60%测试时间? 与上述相同的硬件设置? TestStand自动调度资源? 进一步缩短~15-20%测试时间32我们是否实现了目标？当今的挑战每个UUT三种测试BERTLED功能测试信号完整度测试在10秒内测试所有四个UUT在40分钟内编程测试模块和测试序列34测试执行测试执行开关BERTLED信号