x射线重点倾情终极典藏版ByJiang.docVIP

1.连续X射线谱：从某一短波限λ。开始，直到波长=无穷大 λ∝的一系列波长所构成的X射线谱。 2.莫塞莱定律：特征X射线谱的频率（或波长）只与阳极靶物质的原子结构有关，而与其他外界因素无关，是物质的固有特性。 3.光电效应：当激发二次特征辐射时，原入射X射线光子的能量转变为电子的能量，使电子逸出原子之外。这种电子称为光电子，这一过程称为光电效应。 4.中心暗场像：入射电子束相对衍射晶面一定角度，物镜光阑仍在光轴位置，此时衍射斑将移到透镜的中心位置，该衍射束通过物镜光栏形成的衍衬像称为中心暗场像，中心暗场比普通暗场清晰。 5.质厚衬度：对于无定型和非晶试样，透射电镜图像是由于试样各部分的质量和厚度不同形成的 6.衍衬成像：由于样品中不同位向的晶体的衍射条件不同而造成的衬度差别叫衍射衬度； 7.衍射衬度成像：由于晶体试样结构振幅不同和满足布拉格条件的程度不同使得透射电子束强度发生变化，透射到荧光屏上的强度是不均匀的，这种强度的不均匀所获得的电子像称为衍射衬度成像. 8.差热分析：在程序控制温度条件下，测量样品与参比物间的温度差与温度关系的一种热分析方法。 将样品与参比物的温差作为温度或时间的函数连续记录下来，就得到了差热分析曲线。 9.特征X射线定义：当X射线管管电压超过某个临界值时，在连续X射线谱的某个波长处出现尖锐的强度峰，改变管电压时，该强度峰只改变强度而峰的位置所对应的波长不变，即该强度峰的波长反映了物质的原子序数特征，称为特征X射线。 10.辐射强度：垂直于X射线传播方向的单位面积上，在单位时间内所通过的光子数目的能量总和。 11.系统消光：因原子在晶体中位置不同或原子种类不同而引起的某些方向上的衍射线消失的现象 12.结构因子：定量表征原子排布以及原子种类对衍射强度影响规律的参数称为结构因子，即晶体结构对衍射强度的影响因子。 13.吸收因子：平板试样的吸收因子，在入射角与反射角相等时，吸收与θ无关。 14.?温度因子，晶体中原子是处在连续不断的热振动状态下，必然给衍射带来影响．1.晶胞膨胀2.衍射线强度减小3.产生非相干散射。（热漫散射）。热振动不会改变布拉格角，不会使衍射线变宽，晶体直到熔点时衍射线依然存在。 15.角因子：（包括极化因子和罗仑兹因子）极化因子(1+cos22θ)/2洛伦兹因子（1/4 sin2θcosθ）洛伦兹因子与极化因子合并，则角因子：ф(θ)= (1+cos22θ)/ sin2θcosθ 16.多重性因子：通常将同一晶面族中等同晶面组数P称为衍射强度的多重性因子。 17.相干散射：当入射线与原子内受核束缚较紧的电子相遇，光量子能量不足以使原子电离，但电子可在X射线交变电场作用下发生受迫振动，这样电子就成为一个电磁波的发射源，向周围辐射与入射X射线波长相同的辐射 18.非相干散射：当X射线与束缚力不大的外层电子或自由电子碰撞时，电子被撞出原来的轨道，成为反冲电子，入射光自身也被撞偏了一定角度。 19.背散射电子：当入射电子束与样品相互作用时，被固体样品中的原子核反弹回来的一部分入射电子称为背散射电子，包括弹性背散射电子和非弹性背散射电子。 20.二次电子：被入射电子轰击出来离开样品表面的核外电子叫做二次电子。 21.透射电子：如果样品的厚度比入射电子的有效穿透深度小得多，将有相当数量的入射电子能够穿透样品，而被装在样品下方的电子检测器所检测，这些电子叫做透射电子。 22.特征X射线：当样品原子的内层电子被入射电子激发，外层电子将向内层跃迁，发射出特征X射线。 根据探测到的特征X射线的波长，可以判定这个微区中存在着相应的元素。 23.俄歇电子：如果原子内层电子能级跃迁过程所释放的能量，不是以特征X射线的方式辐射，而是把其他电子激发，逸出样品表层。 24.吸收电子：入射电子进入样品后，随多次非弹性散射次数的增多，其能量和活动能力不断降低，最后被样品所吸收。因为原子序数越大，产生背射电子越多，吸收电子的数量就越少 25.景深：透镜物平面允许的轴向偏差 焦长：透镜像平面允许的轴向偏差 1.X射线产生的基本条件：（1）产生并发射自由电子（加热钨灯丝）（2）在真空中（一般为10-6毫米汞柱）迫使自由电子朝一定方向高速运动（加一很高的管电压）。（3）在高速电子流的运动路程上设置一障碍物（阳极靶），使高速运动的电子突然受阻。 2.短波限λ0存在的原因:从灯丝发射出的电子经高压电场加速，使电场的位能转化为电子的动能。电子被阳极突然阻止时，动能的一部分将转化为一或几个X射线光子，其余转变为热能（或光子逸出）。 3.透射电镜薄膜样品的制备要求:（1）薄膜样品的组织结构必须和大块样品相同。（2）薄膜样品厚度必须足够薄，能被电子束透过。（3）薄膜样品应有一定强度和刚度，在一定的机械力作用下不会引起变形或损坏.（4