查新点案例.docVIP

案例一项目名称：集成电路可测性设计技术研究查新目的：立项查新 查新项目的科学技术要点：??? 集成电路测试和设计技术是集成电路的主要核心技术，而可测性设计技术是集成电路测试和设计这两大核心技术的复合技术或边缘技术。它主要包括集成电路可测性方法和理论、边界扫描、内建自测试等可测性技术。本项目主要是拟对甚大规模集成电路（如40万门、80万门ASIC）的测试技术进行研究，为自主开发新一代甚大规模集成电路以及发展我国自有知识产权的集成电路产业打下了基础。集成电路可测性设计技术是集成电路技术创新的产业化的核心技术之一，通过该项目攻关，研究甚大规模集成电路可测性理论，建立以计算机辅助测试和设计为基础的甚大规模集成电路开发平台，完成以ASIC和consumer为代表的一系列利用可测性设计技术开发的集成电路的设计和测试。拥有甚大规模集成电路测试开发能力，并且实用化，解决大规模集成电路研制和产业化过程中必须由国人自己掌握的测试与分析技术。查新点：??????1.拟研究超大规模集成电路（40万门以上）的可测性设计技术，包括边界扫描、内建自测试等可测试技术。 ??????2.建立以计算机辅助测试和设计技术为基础的超大规模集成电路开发平台。 ??????3.完成以ASIC和consumer为代表的一系列利用可侧性设计技术开发的集成电路的设计和测试查新要求： 了解国内开发研究进