扫描隧道显微镜102页案例.ppt

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7.扫描热显微镜 扫描热显微镜用于探测样品表面的热量散失,可测出样品表面温度在几十微米尺度上小于万分之一度的变化。扫描热显微镜的探针是一根表面覆盖有镍层的钨丝,镍层与钨丝之间是绝缘体,在尖端二者相连,这一钨/镍接点起热电偶的作用。探针稳定到样品表面后,向结点通直流电加热,针尖的温度稳定下来时要比周围环境温度高。由于样品是固体,导热性能比空气好,所以当加热后的针尖向样品表面靠近时,针尖的热量向样品流失使针尖的温度下降。通过反馈回路调节针尖与样品间距,从而控制恒温扫描,和获得样品表面起伏的状况。右图为用扫描热显微镜获得的在玻璃基底上的红细胞表面轮廓。 8.扫描隧道电位仪(STP) 扫描隧道电位仪(Scanning Tunneling Potentionmetry,STP)是用于研究电子通过凝聚态物质时的迁移。它可以同时表面形貌的电势分布,因而可以用来研究通过颗粒结构、缺陷和界面的电导。扫描隧道电位仪是在扫描隧道显微镜的样品表面又加了一个电极,样品与针尖之间加一交流电压,反馈系统利用这一交流电压产生的交流隧道电流来控制在扫描时隧道间隙的恒定。 9.光子扫描隧道显微镜(PSTM) 光子扫描隧道显微镜(Photon Scanning Tunneling Microscope,PSTM)是用光学探针探测样品表面附近被内全反射光所激励的瞬衰场,从而获得表面结构的信息,即它是利用光子的隧道效应。 10.扫描近场光学显微镜(SNONM) 扫描近场光学显微镜(Scanning Near-Field Optical Microscope,SNOM) ,使用一个孔阑限制的光纤探针去探测样品附近的辐射。将光探针以恒高模式在样品表面扫描,可以得到光的显微图象。如果用电子反馈线路调节探针的高度来保持光强的恒定,则得到样品表面的形貌。 4. 其它SPM技术 4.1磁力显微技术 磁力显微技术(MFM)可对样品表面磁力的空间变化成像。 MFM的针尖上镀有铁磁性薄膜,系统工作在非接触模式,检测由随针—样间隙变化的磁场引起的悬臂共振频率的变化 4.1磁力显微技术 用磁力针尖获得的图像都包含着表面形貌和磁特性 与范德瓦尔斯力相比,原子间磁力在较大的间隙时仍保留一定量值。在不同的针尖高度下采集一系列图像是剥离两种效应的一种途径。 如果针尖靠近表面,即处在标准的非接触模式工作区间,则图像主要含形貌信息。 随着间隙增大,磁力效应变得显著。 硬盘磁记录单元的形貌像(左)和MFM图像(右) 4. 其它SPM技术 4.2 力调制显微术(FMM) AFM针尖以接触方式扫描样品,将一周期信号加在针尖或样品上,由此信号驱动产生的悬臂调制振幅随样品弹性而变。 4. 其它SPM技术 4.3 静电力显微技术(EFM) 静电力显微技术(EFM)显示出样品表面的局部电荷畴结构。 在针尖与样品之间施加电压,当悬臂扫描至静电荷时,悬臂偏转。 4. 其它SPM技术 4.4 扫描电容显微技术(SCM) 4.5热扫描显微技术(TSM) 4.6 近场扫描光学显微术(NSOM) 4.7 近场扫描光学显微术(NSOM) 4.8 纳米光刻 THANK YOU ! * * “尺寸”是设置探针扫描区域的大小,其调节的最大值有量程决定。尺寸越小,扫描的精度也越高,改变尺寸的数值可以产生扫描图象的放大与缩小的作用。 “中心偏移”是指扫描的起始位置与样品和针尖刚放好时的偏移距离,改变中心偏移的数值能使针尖发生微小尺度的偏移。中心偏移的最大偏移量是当前量程决定的最大尺寸。 “工作模式”决定扫描模式是恒电流模式还是恒高度模式。 “斜面校正”是指探针沿着倾斜的样品表面扫描时所做的软件校正。 “往复扫描”决定是否进行来回往复扫描。 “量程”是设置扫描时的探测精度和最大扫描尺寸的大小。 这些参数的设置除了利用在线扫描软件外,利用电子系统中的电子控制箱上的旋钮也可以设置和调节这些参数。 2.马达控制 软件控制马达使针尖逼近样品,首先要确保电动马达控制器的红色按钮处于弹起状态,否则探头部分只受电子学控制系统控制,计算机软件对马达的控制不起作用。马达控制软件将控制电动马达以一个微小的步长转动,使针尖缓慢靠近样品,直到进入隧道区为止。 马达控制的操作方式为:“马达控制”选择“进”,点击“连续”按钮进行连续逼近,当检测到的隧道电流达到一定数值后,计算机会进行警告提示,并自动停止逼近,此时单击“单步”按钮,直到“Z电压”的数值接近零时停止逼近,完成马达控制操作。 (二) 离线数据分析 离线数据分析是指脱离扫描过程之后的针对保存下来的图象数据的各种分析与处理工作。常用的图象分析与处理功能有:平滑、滤波、傅立叶变换、图象反转、数据统计、三维生成等。

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