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失效分析案列寰宇科技 质量部2016年9月5日 案例：材料不良——对讲机压敏电阻峰值电流超差问题描述发生地点：客户现场问题：对讲机返修件压敏击穿短路返修率：约5‰ 原因分析1.压敏电阻峰值电流低于规格要求。要求为280A，实测为140A.检验标准压敏电压37.8-46.2V漏电流＜50uA峰值电流8/20μs（280A）1 √ √×2 √ √×3 √ √×4 √ √×5 √ √×通过测试发现压敏电阻的峰值电流为140A＜标准280A，判定物料不良。2.风华生产此款压敏的工厂的浪涌检测设备已经损坏，此项指标没有进行过程控制案例：材料不良——LED灯性能不稳定发生地点：生产过程问题：LED 灯性能不稳定，时亮时不亮不良率：约9%问题描述原因分析供应商分析结果：1.金线断裂 2.支架污染图三测试方法：-40℃存放15min→室温存放5min→100℃存放15min→室温存放5min，循环50次 图一 解剖分析，打磨胶体后在100 倍光电投影仪下量测不良样品LED 内部构结，第二焊点，金线断开；焊点正常；图二用浓硫酸溶解胶体裸露出金线头，直接通电LED 芯片正常点亮注：通过高低温试验25个有8个不亮案例：材料不良——光耦假冒伪劣发生地点：生产过程问题描述：计数计时器计时慢、不计次、漏电、计数不到100的问题不良率： 5%问题描述原因分析通过第三方寄回原厂分析，结论为仿品案例：设计不良——HAA2006D烧坏R37、Z1失效分析发生地点：客户现场问题描述：R37电阻和Z1稳压管烧损不良率： 返修数量53件，2016年上半年生产400件。问题描述原因分析Z1使用时功率超过规格要求，长期使用击穿，同时导致R37损坏。规格书为500mW.实测Z1两端电压16.5V，电流36.8mA. 功率为:600mW. 案例：设计不良——HAA2006D烧坏R37、Z1失效分析产品：2006D发生地点：客户现场问题描述：R37电阻和Z1稳压管烧损不良率： 返修数量53件，2016年上半年生产400件。问题描述原因分析Z1使用时功率超过规格要求，长期使用击穿，同时导致R37损坏。规格书为500mW.实测Z1两端电压16.5V，电流36.8mA. 功率为:600mW. 案例：设计不良——2015A接触器弹跳发生地点：生产过程问题描述：在进行功能测试的时候，带负载的时候，接触器会不停地弹跳不良率：问题描述原因分析IR2153S的VCC电压不太稳定，不断地从8V变化为10V，再从10V变化为8V。再查看IR2153S的产品规格书得知，IR2153S的最低工作电压10V。由于IR2153S的VCC电压不稳定。当VCC低于8V时，IC停止工作，接触器线圈失电。当VCC电压升高到10V时，IC继续工作，接触器线圈得电。所以导致接触器不断地在弹跳。而最终影响到IC工作电压的是由于该电压的反馈信号与HAA2015A3的24V+ 发生冲突，使反馈信号升高了，最终印象到IC供电。 案例： 设计不良——电容温度超过最大工作允许温度产品名称：ALP-LF-MRL停电柜产品型号：HAA1001GM主控板：2015A3-1电源板：HAA2006C发生地点：试验科一.主要问题：ARD应急运行，电容温度超过元件规格书要求。二.工作原理：C74、 C75、 C76、 C77主要是吸收反向高压，保护二极管。具体原理如下：变压器有漏感，二极管有结电容。在变换器工作的时候，漏感和结电容在每个开关周期会发生振荡，可能导致二极管上有高的电压尖峰而击穿。在二极管上并联一个串联的RC单元，可以阻尼这种振荡的幅度，降低二极管上的电压尖峰，保护二极管被击穿。 三.存在的风险：长期在70℃以上，就会因为容量下降而失效。D20、 D21、 D22、 D23 失去保护，容易被击穿。从而导致HAA2015A3主控板的DC-DC电路失效，即电池电压无法升压至DC 540V。案例：设计不良——场效应管的漏源极间电压超标（试验科）产品名称：UCMP复位控制器产品型号：UCMP-R1-3.5发生地点：试验科一.主要问题：输入DC24±10%电压，接夹绳器负载复位，电机启动下行和启动上行时Q5的DS电压超过元件规格书的VDSS值要求。二.工作原理：元件Q5在电路中的作用是防止UP与DN两个继电器在接通和断开时产生拉弧现象。三.存在的风险：当Q5的漏源击穿后，Q5的漏源短路， UP与DN两个继电器在动作时产生拉弧，触点容易烧蚀，导致触点的粘连、移动会产生触点不能断开的故障。继而导致复位电机因失去供电而不能工作，整个复位控制器失效。