數显卡尺内校管理办法.docVIP

数显卡尺内校管理办法 1.0 目的及适用范围 1.1 目的 本管理办法规定了数显卡尺的技术要求、校准条件、校准项目、校准方法、校准结果的处理和校准周期。 1.2 适用范围 本管理办法用于新购置、使用中和修理后的数显卡尺功能的校准。 2.0 引用文件 JJG30-2002通用卡尺检定规程 3.0 术语和定义 不需用 4.0 一般要求 4.1 技术要求 4.1.1 外观及附件。 被检卡尺的外观应完好，无影响正常工作的机械损伤，其附件和使用说明书应齐全。 4.1.2 工作正常性 被检卡尺的各开关及显示功能应正常，通电后应能正常工作。 4.2 校准条件 4.2.1 环境条件如下： 4.2.1.1 环境温度：（20±5）℃； 4.2.1.2 相对湿度：20％～75％； 4.2.2 校准用设备 校准所用标准设备必须经过法定计量技术机构校准合格，并在有效期内。标准设备的测量范围要涵盖被检仪器的测量范围，标准件的精准度最少小于被检卡尺的三分之一。 4.2.2.1 三等量块 4.2.2.2 数显千分尺 5.0 详细要求 5.1 校准项目 5.1.1 周期校准项目 5.1.1.1 外观及附件； 5.1.1.2 工作正常性； 5.1.1.3 各量程内的示值误差。 5.1.2 修理后校准项目 修理后的仪器校准时，一般按周期校准的项目进行校准，必要时可视修理情况增加有关的校准项