1.客戶訴願處理流程-read.pptVIP

* * 客 訴 處 理 Elan / QRA 顏 安 建 * 1.客戶訴願處理流程 2.客戶訴願案件處理之時效控制 3.客戶訴願中代理商所應負之責任 4. Elan 處理客訴之最大目的 5. IC 生產流程 6. 客戶服務單之填寫方式及客訴報告之名詞解釋 7. 目前客訴於工程分析一般所遭遇之問題 8. 因敘述不清導致分析方向錯誤之實例 9. 常發生客訴問題之解決方案 10. 結論 問題討論 * 1. 客戶訴願處理流程 * 2. 客戶訴願案件之處理時效控制 客戶反應問題至代理商將訊息傳遞至 Elan 之時效管理需代理商配合! 惟有提供正確且完整之資訊才能得到有效率之分析. * 1. 客戶問題確立, 2. 客戶之樣品蒐集(含良品,不良品及成品), 如何做到一次送完全所需的樣品? 3. 生產基本資料蒐集(含:生產不良或Field return 確認, 生產測試環境, 儲存環境, 測試方式等), 4. 客戶應用之資料蒐集 (應用線路圖) 5. 確認客戶所提供之資料是否正確, 6.時效性 :客戶生產在過程中,發現產品有問題代理商應立刻了解問題的原因,同時向義隆反應,提出客訴.而非集中所有的不良品及所有不良原因,集體客訴。 7. 向客戶說明 Elan 之分析結果, 作為 Elan 與 客戶間之溝通管道 3. 代理商於客訴中所應負之責任 * * * 1. 對外滿足客戶之需求 2. 對內找出 Elan 產品之真正不良原因, 進而提升 Elan 產品之品質. 4. Elan 處理客訴之最大目的 * * 5. IC 生產流程 * * 6.客戶服務單之填寫方式及客訴報告之名詞解釋 1. 客戶服務單 客戶提出日期 : 客戶向代理商提出客訴之日期 代理商提出客服日期 : 代理商向義隆提出客訴之日期 代理商出貨總數: 代理商出貨給客戶之數量 生產總數 : 客戶已下線生產之數量 生產不良數 : 客戶已下線生產所產生之不良數 生產不良率 = (生產不良數) / (生產總數) * 100% 樣品數 : 客戶所提供分析之樣品數 代理商出貨日期 : 代理商出貨給客戶之日期 * * * * * * * * * * 2. 客訴分析報告之名詞解釋 * * WAT ( Wafer Acceptance Test ) Test : Wafer 從 Foundry 出貨前所須作之元件特性測試 , 應符合 Elan 與 Foundry 所訂定之規格才可出貨至 Elan. Elan / IQC 亦有此項目之檢驗. CP (Chip Probe) Test : 產品於 Wafer 階段之電性測試. FT (Final Test) Test : 產品於封裝後之電性測試 QC Record : 產品於所有生產階段之 Quality Control Gate 之檢驗記錄 * * Problem Description : 客戶描述之故障現象 Elan’s Verification : 可分為 Elan/FAE 部門與 Elan / QRA 部門之分析內容 Elan/FAE 部門主要分析內容為 : 1. 確認客戶確實故障原因, 2. 客戶之應用是否超出Spec, 3. 客戶所搭配之component 是否合格, 4. 產品所搭配之應用線路有無問題, 5. 確認是否為產品工程階段即 Waive 之Bug. 6. 推測可能之故障原因 Elan/QRA 部門主要分析內容為 : 1. 分析產品故障原因, 2. 對客戶提出改善措施以降低生產不良率, 3. 對內部提出分析報告並提出改善須求, 4. 防止再發並提升產品品質 5. 提醒客戶其生產線之異常