ASIC测简介.docVIP

ASIC测试简介 目录： ------------------------------ 1、测量可重复性和可复制性(GRR) 2、电气测试可信度(ElectricalTestConfidence) 3、电气测试的限值空间(Guardband) 4、电气测试参数CPK 5、电气测试良品率模型(testyield) 6、晶圆测试和老化(WaferlevelTestandburn-in) 7、边界扫描(Boundary-Scan)测试/JTAG标准 8、自我测试电路(Built-inSelfTest) 9、自动测试图形向量生成(ATPG) 1、GRR是用于评估测试设备对相同的测试对象反复测试而能够得到重复读值的能力的参数。也就是说GRR是用于描述测试设备的稳定性和一致性的一个指标。对于半导体测试设备，这一指标尤为重要。 从数学角度来看，GRR就是指实际测量的偏移度。测试工程师必须尽可能减少设备的GRR值，过高的GRR值表明测试设备或方法的不稳定性。 如同GRR名字所示，这一指标包含两个方面：可重复性和可复制性。可重复性指的是相同测试设备在同一个操作员操作下反复得到一致的测试结果的能力。可复制性是说同一个测试系统在不同操作员反复操作下得到一致的测试结果的能力。 当然，在现实世界里，没有任何测试设备可以反复获得完全一致的测试结果，通常会受到5个因素的影响： 1、测试标准 2、测试方法 3、