现代仪器分析XRF.docVIP

成 绩 中 国 矿 业 大 学 2016级 硕 士研究生课程考试试卷 考试科目 现代仪器分析 考试时间 2016-10-18 学生姓名 王一鹏 学 号 T3 所在院系 化工学院 任课教师 何亚群教授 中国矿业大学研究生院培养管理处印制 XRF在矿物加工领域中的应用 王一鹏 （中国矿业大学 化工学院） 摘要：?X射线荧光光谱分析（X Ray FluorescenceXRF）是固体物质成分分析的常规检测手段，也是一种重要的表面/表层分析方法。本文主要介绍了X射线荧光光谱仪的工作原理及主要构造，并了X射线荧光矿物加工学领域中的应用。 原理 表面/表层分析 矿物加工 1 X射线荧光光谱分析概述 X射线荧光光谱分析（X Ray Fluorescence，XRF）是固体物质成分分析的常规检测手段也是一种重要的表面/表层分析方法。由于整体技术和分光晶体研制发展所限，早期的X射线荧光光谱仪检测范围较窄，灵敏度较差。随着测角仪、计数器、光谱室温度稳定等新技术的进步，使现代X射线荧光光谱仪的测量精密度与准确度有了较大改善。特别是人工合成多层膜晶体的开发应用使轻元素铍、硼、碳、氮、氧等的X射线荧光光谱分析分析成为可能，这类晶体是由低原子序数和高原子序数物质以纳米级厚度交替叠积而成，其层间厚度可以人工控制，如OVO－B晶体的间距为20纳米，适用于硼和铍的分析。由于X射线管的功率增大，铍窗减薄，X射线管与样品的距离缩短，为轻元素分析配备了超粗准直器，降低了元素的检出限，技术发展使现代X射线荧光光谱仪的检测范围可达到4Be(铍)～92U(铀)对元素的检测范围为106%~100%。 2.1 X射线荧光的物理原理 X射线是电磁波谱中的某特定波长范围内的电磁波，其特性通常用能量（单位千电子伏特，keV）和波长（单位nm）描述。 X射线荧光是原子内产生变化所致的现象。一个稳定的原子结构由原子核及核外电子组成。其核外电子都以各自特有的能量在各自的固定轨道上运行，内层电子（如K层）在足够能量的X射线照射下脱离原子的束缚，释放出来，电子的逐放会导致该电子壳层出现相应电子空位。这时处于高能量电子壳层的电子如：L层）会跃迁到该低能量电子壳层来填补相应电子空位。由于不同电子壳层之间存在着能量差距，这些能量上的差以二次X射线的形式释放出来，不同的元素所释放出来的二次X射线具有特定的能量特性。这一个过程就是我们所说的X射线荧光XRF)。 2. 元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁，同时发射出具有一定特殊性波长的X射线，根据莫斯莱定律，荧光X射线的波长λ与元素的原子序数Z有关，其数学关系如下： λ=K(Z? ) ?2 式中K和S是常数。 2. 而根据量子理论，X射线可以看成由一种量子或光子组成的粒子流，每个光具有的能量为： E=hν=h C/ λ 式中，E为X射线光子的能量，单位为keV；h为 普朗克常数ν为光波的频率；C为光速。 因此只要测出荧光X射线的波长或者能量就可以知道元素的种类，这就是荧光X射线定性分析的基础。 nλ=Zdsinθ 对于晶体的每一种角位置,只可能有一种波长的辐射可被衍射,而这种辐射的强度则可用合适的计数器加以测量。分析样品时,鉴定所发射光谱中的特征谱线,就完成了定性分析;再将这些谱线的强度和某种适当标准的谱线强度进行对比,就完成了定量分析。 3 X射线荧光光谱仪结构 该系统由X射线发生器、光谱仪主体部分、电气部分及系统控制器、计算机部分组成。 3.1 X射线发生器 X射线发生器由高压变压器及管流管压控制单元X射线管热交换器。 3.2 光谱仪主体部分 3.2.1 样品进给器 样品进给器，是样品进入真空系统的一个过渡。因为荧光X射线在空气中会被衰减，所以样品分析需要在真空环境下进行。这样，试样就需要从大气状态进入真空环境。 滤片的作用是消除可能提高背景或对某些元素产生迭谱干扰的特征谱线从而提高对这些元素分析的灵敏度。滤波片采用K吸收缘介于元素的Kα和Kβ的波长之间的材料制成。 光阑 由于来自X光管的X射线不仅照射到分析样品上也会照射到样品盒及样品罩上。而产生来自样品盒或罩上的不需要的荧光射线从而影响分析精度因此使用了光阑系统来保证只允许来自分析样品的荧光X射线进入计数器。 狭缝 来自样品的荧光X射线和散射线都不是单一方向的入射狭缝装在样品和分光晶体之间它只允许指向分光晶体方向的荧光X射线通过而吸收其它方向的射线从而提高了