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专题时间序列特性分析
选择工具栏中的“View”|“Unit Root Test”选项,会弹出如下图所示的对话框。 EViews6.0为用户提供了6种单位根检验的方法,有 “Augmented Dickey–Fuller”(ADF)检验法, “Dickey–Fuller GLS (ERS)”(DF)检验法, “Phillips–Perron”(PP)检验法, “Kwiatkowski–Phillips–Schmidt–Shin”(KPSS)检验法, “Elliott–Rothenberg–Stock Point–Optimal”(ERS)检验法, “Ng–Perron”(NP)检验法。 * 其中 a 是常数,? t 是线性趋势函数,ut ~ i.i.d. N (0, ? 2) 。 1. DF检验 为说明DF检验的使用,先考虑3种形式的回归模型 * (1) 如果 -1 ? 1,则 yt 平稳(或趋势平稳)。 (2) 如果 ?=1,yt 序列是非平稳序列。(5.3.4)式可写成: 显然 yt 的差分序列是平稳的。 (3) 如果 ? 的绝对值大于1,序列发散,且其差分序列是非平稳的。 * 因此,判断一个序列是否平稳,可以通过检验 ? 是否严格小于1来实现。也就是说: 原假设H0:? =1,备选假设H1:? 1 从方程两边同时减去 yt-1 得, 其中:? =? -1。 * 其中:? =? -1,所以原假设和备选假设可以改写为 可以通过最小二乘法得到? 的估计值,并对其进行显著性检验的方法,构造检验显著性水平的 t 统计量。 但是,Dickey-Fuller研究了这个t 统计量在原假设下已经不再服从 t 分布,它依赖于回归的形式(是否引进了常数项和趋势项) 和样本长度T 。 * Mackinnon进行了大规模的模拟,给出了不同回归模型、不同样本数以及不同显著性水平下的临界值。这样,就可以根据需要,选择适当的显著性水平,通过 t 统计量来决定是否接受或拒绝原假设。这一检验被称为Dickey-Fuller检验(DF检验)。 上面描述的单位根检验只有当序列为AR(1)时才有效。如果序列存在高阶滞后相关,这就违背了扰动项是独立同分布的假设。在这种情况下,可以使用增广的DF检验方法(augmented Dickey-Fuller test )来检验含有高阶序列相关的序列的单位根。 DF检验: AR(1)过程: 实际检验时: ,其中 原假设: 包含常数项: 包含常数项以及线性时间趋势: 单位根检验的对话框 检验类型:六项 对检验序列的选择(Test for unit root in):原序列不差分,一阶差分,二阶差分 对序列趋势类型的选择(Include in test equation):常数项和趋势项 滞后阶数的选择(Lag length):检验类型(Automatic selection),ADF检验方程式中的滞后期(Maximum Lags)K,若仅考虑存在一阶相关,其值为0. 在“Test for unit root in”中选择序列形式。 “Level”表示对原序列进行单位根检验, “1st difference”表示对一阶差分序列进行单位根检验, “2nd difference”表示对二阶差分序列进行单位根检验。 “Lag length”表示消除序列相关所需的滞后阶数,在该区域有两个选项按钮。 在“Automatic selection”(自动选择)中有两个文本框,第一个文本框的下拉列表中有6个准则,常用的是“AIC”和“SC”最小准则,系统在默认状态下显示的是SC准则; 第二个文本框中输入最大滞后阶数,一般系统会根据样本容量而自动给出一个数值。代表ADF检验方程式中的滞后期p。若仅考虑存在一阶自相关,将其值改为0. 如果选中“User specific”,则用户可输入具体的数值,系统会给出检验结果。 “Include in test equation”表示检验式中是否包含“Intercept”(截距项)、“Trend and intercept”(趋势项和截距项)和
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