07-X射线衍射分析的应用
B、对待分析样有所了解 1. 根据衍射数据确定各衍射线的d值及其相对强度。 2. 初步确定试样可能含有的物相,按照这些物相的英文名称,从字母索引中找出它们的卡片号,然后从卡片盒中找出相应的卡片。 3. 将计算所得d值和相对强度,与卡片上的值一一对比,如果数据吻合,则待分析样中含有卡片记载的物相。同理,可将其他物相一一定出。 例: 答: 由布拉格方程, 先计算三强峰的d分别为: 0.2090 nm,0.1604 nm,0.2588 nm 与卡片10-0173 的α-Al2O3较符合,比对其他衍射峰的结果可确定是α-Al2O3,即刚玉型结构。 X射线测定残余应力优点: 1、非破坏性。 2、塑性变形时晶面间距不变化,不会使衍射线位移,因此,X射线法测定的是纯弹性应变。其他方法无法分辨弹性应变和塑性应变。 3、X射线法可以测定1~2mm以内的应变,而其他方法通常为20~30mm范围内的平均应变。 4、X射线法测定试样表层大约10μm深度内的二维应力。采用剥层的办法,可以测定应力沿层深的分布。 5、可测量材料中的三类应力。 X射线法的不足之处: X射线残余应力测定原理: 根据衍射线条的θ角变化或衍射峰形状或强度变化来测定材料表层微小区域的应力。 残余应力在一个或几个晶粒范围内平衡时,称微观应力。有微观应力存在时,各晶
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