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《材料近代分析方法》总复习第一篇X射线衍射部分第二篇电子显微分析第一篇X射线衍射部分一、X射线的性质 二、X射线衍射方向及强度 三、晶体分析方法 四、X射线衍射的应用 一、X射线的性质1.关于X射线的历史、性质、本质和X射线的产生2. X射线谱①连续X射线谱连续X射线谱的规律 波长连续变化；? 短波限；? 强度峰值在1.5λ0处；管电压不变，λm、λ0 不变② 特征X射线谱 特征X射线的产生 特征X射线的命名 3.X射线与物质的相互作用①宏观效应——X射线强度衰减②微观机制——X射线被散射和吸收X射线的吸收：两种表现形式：光电效应? 俄歇效应4. 什么是吸收限？如何选择滤波片？吸收限 （λk为吸收限）滤波片的选择 ：它的吸收限位于辐射源的Kα和Kβ之间，且尽量靠近K α。二、X射线衍射方向及强度1.晶系与布拉菲点阵 2. 布拉格方程 (n = 0,1,2,3,……)3.布拉格方程的应用?晶体结构分析：由λ,θ得到d，获得晶体结构特点?X射线光谱学：由 d,θ得到λ，获得该元素的原子序数4. X射线衍射强度散射因子和结构因子的表示方法发生衍射的充要条件满足 该晶面的结构因子 系统消光常用X射线衍射分析方法 方 法 晶体条件 波长λ入射角θ老 埃 法单晶体变化不变化周转晶体法单晶体不变化变化粉 末 法多晶体不变化变化衍射花样的指标化入射角正炫平方比＝干涉面指数平方和比 四、X射线衍射