4衍射仪.pptVIP

测角仪 超能探测器 一种一维阵列探测器 解决问题： 1衍射强度弱 2德拜环不连续 3测试速度 晶体单色器 准单晶石墨弯晶单色器 特点：反射效率高，衍射线分布均匀 几种特殊用途的衍射装置 高温x射线粉末衍射装置 低温x射线粉末衍射装置 高低温单色聚焦照相机 高压x射线粉末衍射装置 粉末衍射图形的衍射谱线异常及原因 图形法 峰顶法 切线法 半高宽中点法 7/8高度法 中点连线法 从衍射线的指数和晶面间距求得的晶格常数值不一致 装置调整不良，指标化错误，Kβ线，杂质衍射线 衍射线相对强度重现性不好 试样粉末粗大，同计数率相比扫描速度过快 特定的衍射线特别强（弱），重现性好 晶体各向异性，微晶择优取向 衍射线宽化 装置光学系统分辨率不好，微晶试样，微观应变 衍射图形全部模糊 非晶（无定形） 高角衍射线宽化 点阵不完整，结构缺陷和内部畸变，试样成分局部不均匀 背底高 试样的荧光x射线，试样晶体结构缺陷，装置调整不良 衍射线弱 初级X射线弱，计数记录条件不适当，装置调整不良，试样结晶状态不好，非晶，混杂物多 衍射线分裂 单胞稍有畸变，对称性下降 衍射线异常 光学系统分辨率不好，装置调整不良 衍射图形的细小起伏过多（过少） 计数率仪的时间常数过小（过大），衍射强度弱，扫描速度过快 衍射线峰位确定 图形法 曲线 近似法 重心法 聚焦法光路 探测器与记录系统 X射线衍射仪可用的辐射探测器有正比计数器、盖革管、闪烁计数器、Si（Li）半导体探测器、位敏探测器等，其中常用的是正比计数器和闪烁计数器。 正比计数器 正比计数器是由金属圆筒（阴极）与位于圆筒轴线的金属丝（阳极）组成。金属圆筒外用玻璃壳封装，内抽真空后再充稀薄的惰性气体，一端由对X射线高度透明的材料如铍或云母等做窗口接收X射线。当阴阳极间加上稳定的600-900V直流高压，没有X射线进入窗口时，输出端没有电压；若有X射线从窗口进入，X射线使惰性气体电离。气体离子向金属圆筒运动，电子则向阳极丝运动。由于阴阳极间的电压在600-900V之间，圆筒中将产生多次电离的“雪崩”现象，大量的电子涌向阳极，这时输出端就有电流输出，计数器可以检测到电压脉冲。 。 X射线强度越高，输出电流越大，脉冲峰值与X射线光子能量成正比，所以正比计数器可以可靠地测定X射线强度 闪烁计数器 闪烁计数器是利用X射线作用在某些物质（如磷光晶体）上产生可见荧光，并通过光电倍增管来接收探测的辐射探测器，其结构如图3-12所示。当X射线照射到用铊（含量0.5%）活化的碘化钠（NaI）晶体后，产生蓝色可见荧光。蓝色可见荧光透过玻璃再照射到光敏阴极上产生光致电子。由于蓝色可见荧光很微弱，在光敏阴极上产生的电子数很少，只有6-7个。但是在光敏阴极后面设置了多个联极（可多达10个），每个联极递增100V正电压，光敏阴极发出的每个电子都可以在下一个联极产生同样多的电子增益，这样到最后联极出来的电子就可多达106-107个，从而产生足够高的电压脉冲。 闪烁计数器 计数测量电路 将探测器接收的信号转换成电信号并进行计量后输出可读取数据的电子电路部分。它的主要组成部分是脉冲高度分析器、定标器和计数率器。 计数测量电路 脉冲高度分析器是对探测器测到的脉冲信号进行甄别，剔除对衍射分析不需要的干扰脉冲，从而降低背底，提高峰背比。 定标器是对甄别后的脉冲进行计数的电路。定标器有定时计数和定数计时两种方式。测量精度服从统计误差理论，测量总数越大误差越小。一般情况下，使用的是定时计数方法，当要对X射线相对强度进行比较时宜采用定数计时方式。 计数率器是测量单位时间内的脉冲数，这与定标器不同，定标器是测量一段时间的脉冲数。计数率器是将单位时间脉冲数转换成正比的直流电压输出 衍射仪的工作方式 连续扫描 步进扫描 连续扫描 这种测量方法是将计数器与计数率计连接，让测角仪的θ/2θ角以1︰2的角速度联合驱动，在选定2θ角范围，以一定的扫描速度扫测各衍射角对应的衍射强度，测量结果自动记录 CuSO4·nH2O at 50 °C and varying humidity 优点：扫描速度快，工作效率高。 缺点：线形、峰位不如步进扫描精确，且其测量精度受扫描速度和时间常数的影响。 用途：物相定性分析、择优取向测定、形变回复的研究。 步进扫描 这种测量方法是将计数器与定标器连接，首先让计数器停在要测量的起始2θ角位置，按定时器设定的计数时间测量脉冲数，将所测得的脉冲数除以计数时间每前进一步都重复一次上述的测量，给出各步2θ角对应的衍射强度。 步进扫描每步停留的测量时间较长，测量的总脉冲数较大，从而可减小脉冲统计波动的影响。 步进扫描不使用计数率计，没有滞后效应。测量精度高，能给出精确的衍射峰位、衍射线形、积分强度和积分宽度等衍射信息，适合作各