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透射电子显微镜-TEM Transmission electron microscope 内容 简介 结构原理 样品制备 透射电子显微像 选区电子衍射分析 TEM 简介 1898年J.J. Thomson发现电子 1924年de Broglie 提出物质粒子波动性假说和1927年实验的证实。 1926年轴对称磁场对电子束汇聚作用的提出。 1932年，1935年，透射电镜和扫描电镜相继出现，1936年，透射电镜实现了工厂化生产。 上世纪50年代，英国剑桥大学卡文迪许实验室的Hirsch和Howie等人建立电子衍射衬度理论并用于直接观察薄晶体缺陷和结构。 1965年，扫描电子显微镜实现商品化。 70年代初，美国阿利桑那州立大学J.M. Cowley提出相位衬度理论的多层次方法模型，发展了高分辨电子显微象的理论与技术。饭岛获得原子尺度高分辨像（1970) 。 80年代，晶体缺陷理论和成像模拟得到进一步发展，透射电镜和扫描电镜开始相互融合，并开始对小于5埃的尺度范围进行研究。 90年代至今，设备的改进和周边技术的应用。 透射电子显微镜-TEM 为什么采用电子束而不用自然光？ 显微镜的分辨率 自然光与电子束的波长 有效放大倍数 显微镜的分辨率 自然光与电子束的波长 可见光的波长在390～760nm 电子波长： 有效放大倍数 光学显微镜必须提供足够的放大倍数，把它能分辨的最小距离