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多晶锭整锭全阴品质异常报告 异常描述 2月17日发生一起多晶锭全阴,P型重掺,电阻率0.2-0.3 ,配料编号 原因分析 只有重掺物料混入2公斤左右会造成不良发生。判定为重掺物料 混入 技术调查 造成异常可能有以下两点: 1、母合金放置错误: 对母合金计量分析,如果硅锭电阻率P0.2-0.3,通过配料计算,则投放母合金P0.015需要1.9KG ,然而查看当班配料记录,该配料总计投入315g母合金,远远低于1.9KG.。 母合金投放超标的原因可排除 2、混晶电池片混入UMG料: 首先对仓库中剩余混晶电池片 (编号JK110108-1)作检测,发现无金属杂质,也无重掺。但由于此样本非发生异常的批次(JK110124-01),故不完全排除混晶电池片的问题。 结论:通过以上调查。技术判定为在无尘、分选车间,混晶电池片 可能混入IC重掺或UMG碎硅片 针对技术分析的混晶电池片混入IC重掺或UMG碎硅片进行调查: 1、对争议JK110124-1混晶片编码的追溯 1.1发现该料为二厂酸洗生产。 1.2对于研发所指混入UMG碎硅片的问题,调查发现该料生产 时间为2月9日~2月10日,期间并无 UMG小料生产. 1.3UMG物料生产为整批进出,在车间并无残留。 2、对外购IC硅锭头尾、边皮、硅锭排查,外购IC料处于重掺仓 封存状态,批次及数量符合。 谢 谢! * ?结论: 1、110124-1中混入IC重掺料和UMG料的可能性无。 2、请技术部再对不良原因做调查,并有调查依据做支持。 品质调查 *
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