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实验4 组合逻辑电路测试与设计 一.实验目的 1. 熟悉组合逻辑电路的测试方法。 2. 掌握采用小规模集成数字器件设计组合逻辑电路的方法。 3. 进一步掌握集成数字器件的性能及使用方法。 4. 进一步熟悉常用电子仪器的使用方法。 二.实验仪器及器材 实验仪器：双踪示波器，交流毫伏表，函数发生器，直流稳压电源，万用表，数字电子电路实验平台。 实验元器件：74LS00、74LS02、74LS86、74LS283等。 * * 三.预习要求 1. 复习组合逻辑电路的分析及设计方法。 2. 写出实验电路的逻辑函数表达式，画出实验电路图。 3. 查出实验所用的所用集成逻辑器件的功能表及管脚排列图。 四.基本实验内容 1. 半加器电路逻辑功能测试 由与非门74LS00组成的半加器电路如图1 所示，其中A是1位二进制加数，B是另1位二进制被加数，S是本位的和，C是本位的进位。请连接好电路，给定A、B所有取值组合，对应测试输出的状态并列表记录，验证半加器功能的正确性。 图1 2. 全加器电路逻辑功能测试 由异或门74LS86和与非门74LS00构成的全加器电路如图2 所示。Ai、Bi是两个数的第i位，Ci-1是来自低位的进位，Si表示第i位的和，Ci表示第i位送给高位的进位。请按图2连接好线路，测试该电路的功能，并列表记录其真值表。 图2 3. 密码锁逻辑电路设计 设计一数字密码