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- 2016-12-19 发布于重庆
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RETS原理測量動作簡易説明 大塚科技 Jaffrey Wang 重點 一、偏光子(板)特性 二、何謂位相差、屈折率 三、直線偏光與円偏光的形成 四、RETS的基本構成 五、RETS‐Calibration測量動作 六、RETS測量動作(Rotate Analyzer Method ) 七、Retardation?Gap的計算 八、RETS的位相差公式 一、偏光子(板)特性 限制光的行進方向。 只向某方向行進的光稱為直線偏光。 將二枚偏光板垂直重疊的話、光將不能通過 二、何謂位相差、屈折率 ① -光学的異方性- 二、何謂位相差、屈折率 ② -位相差- 二、何謂位相差、屈折率 ③ -屈折率- 三、円偏光的形成 ① 四、RETS的基本構成 五、RETS-Calibration測量動作 目的: 1.對齊A與P的角度。 2.求A的透過補正率。 3.用λ板來校正A和P對 於機台的角度。 4.測量λ板、來確認 RETS有無異常。 六、Retardation?Gap的計算(Rotate Analyzer Method) 八、 RETS的位相差公式? Re=△?λ/2π=△n?d的由来 Δ
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