第7章X射线法焦元冬解说.pptVIP

a—晶态试样衍射，特征是衍射峰尖锐，基线缓平。同一样品，微晶的择优取向只影响峰的相对强度。 b—固态非晶试样散射，呈现为一个（或两个)相当宽化的“隆峰”。 c、d—半晶样品的谱图。 c有尖锐峰；且被隆拱起，表明试样中晶态与非晶态“两相’’差别明显。 d呈现为隆峰之上有突出峰，但不尖锐；这表明晶相很不完整。（4）多晶衍射仪的作用利用多晶衍射仪可以得到材料或物质的衍射谱图。根据衍射图中的峰位、峰形及峰的相对强度，可以进行物相分析、非晶态结构分析等工作。在高聚物中主要用于考察物相、结晶度、晶粒择优取向和晶粒尺寸。（5）影响因素 多晶衍射仪实验的影响因素来自三个方面： a. 样品 表观（尺寸，平整性） 内部（取向，晶粒大小等） b. 实验参数 各狭缝大小 信号处理系统各参数 入射线波长及其单色性 其他 c. 环境 空气散射 电源稳定性 其他7.1.3 多晶X射线衍射在高聚物中的应用作为一种考察物质微观结构形态的方法，无论在小分子领域，还是在大分子领域，多晶X射线所分析和测定的内容基本是相同的。高聚物在结构形态上有其自身的复杂性和特殊性，因此，用X射线衍射考察高聚物时，必须结合具体情况进行分析，以获得对真实情况恰当、准确的理解。 目前，在实际中，多晶照相法的大部分工作已被多晶衍射仪法取代，下面要介绍的四种应用均基于衍射仪法。它们依次是：物相分析、结晶度测定、取向测定、晶粒尺寸测定 。 7.1.3.1 物相分析 物相分析不是一般的化学成分分析。一般的化学成分分析是分析组成物质的元素种类及其含量。物相分析不仅能分析化学组成，更重要的是它还能给出元素间化学结合状态和物质。聚集态结构，化学组成相同，而化学结合状态或聚集态不同的物质属不同物相。只含硅，氧两种元素的SiO2，能以不同聚集态存在，构成不同物相。如无定型硅胶、晶态石英、白硅石、方石英等。 X射线衍射物相分析的基本思想是：(1)对于一束波长确定的单色X射线，同一物相产生确定的衍射花样。(2)晶态试样的衍射花样在谱图上表现为一系列衍射峰。各峰的峰位2?i(衍射角)和相对强度 I／I0 是确定的。用2dsin?=??可求出产生各衍射峰的晶面族所具有的面间距di。这样，一系列衍射峰的 di ～ I／I0，便如同指纹一样，成为识别物相的标记。(3)混合物相的谱图是各组分相分别产生衍射或散射的简单叠加。根据上述基本思想，参照已知物相标准，由衍射图便可识别样品中的物相。物相分析的工作程序有两种。第一种：实验得到样品的衍射图，然后将之与已知物相在相同实验条件下的衍射图直接比较，根据峰位，相对强度，样品结构等已知信息判别待定物相。第二种：实验得到待定样品衍射图，求出各衍射峰对应的面间距di，然后结合各峰相对强度I／I0，及试样结构已知信息等，在汇编标准中用di～I／I0。对照检索，确定和识辨物相。目前，国际粉末衍射标准联合会已收集出版了5万多种物相的标准PDF卡(Powder Diffraction File)，包括50多种高聚物 (2000年的数据)。另外，物相分析并不局限于定性识别。它还可以对多相、特别是两相体系中某相的含量予以定量分析。 下面结合高聚物结构形态特点，介绍高聚物定性物相分析： 高聚物衍射图大都伴随出现弥散的“隆峰”，这是短程有序非晶态的表现。结晶性高聚物晶粒(区)尺寸小，缺陷大，造成衍射峰的宽化，峰位漂移较大。鉴于上述特点，高聚物物相分析大都采用直接对比法，并要结合整个谱图线形，样品生成条件，加工条件及其他仪器分析，进行综合考虑。 高聚物物相分析的基本内容有三方面： (1)区分晶态与非晶态(鉴别是否有结晶 ） 非晶态衍射峰是漫射的“晕环”，晶态为有确定d值的锐衍射峰。如果是晶态，也可初步判断是有机还是无机类：一般有机材料的衍射线条多在低衍射区出现，且衍射线条较多。 聚合物材料可以是晶态和非晶态共存，即有非晶漫散射，也有较锐衍射峰，强衍射峰总在非晶漫散射极大强度处附近出现；也可以是某种程度的有序（如纤维素），具有一定锐度的漫散射；也可以是完全的非晶态，散射强度分布相当漫散。 (2)聚合物鉴定 例1：见图。经与已知聚偏氟乙烯谱图比较，发现整个线形基本一致，又经计算，在2?为20°附近两尖锐峰对应的间面距d分别为0.481nm和0.443nm与PDVF的峰基本相同，故可确定为PDVF。 （3）识别晶体类型 结晶性聚合物在不同结晶条件下可形成不同晶型。它们所属晶系及晶胞参数不同。如聚丙烯有?、?、?、?四种晶型，它们对聚丙烯材料的性能影响不同。 结晶类型识别办法是：将待定试样谱图与已知晶型谱图比较。看试样谱图中是否出现已知晶型的各衍射峰。 (c)包含(a)和(b)两种晶型IPP——等规聚丙烯 7.1.