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X射线荧光光谱法 梅 燕 09. 11 1.X射线荧光光谱法简介 2.方法和原理 3.仪器结构和原理 x射线管产生的x射线由两部分组成：具有连续波长成分的连续x射线和具有靶材料元素特性波长的特征x射线。 连续x射线的产生是由于x射线管内高速运动的电子撞击靶原子后受到阻尼，将部分能量传递给靶材料原子，引起轫致辐射所致。 当x射线管的加速电压提高到某一临界值时，就会在连续波长的某些波长位置出现强度很大的线状光谱。这些线状光谱取决于靶材原子，而与入射电子的能量无关。它反映靶材元素的性质，所以成为特征x射线。 横轴为波长， 纵轴为x射线的相对强度 X射线荧光光谱法是利用样品对x射线的吸收随样品中的成分及其多少而变化来定性或定量测定样品中成分的一种方法. 谱线简单 分析灵敏度高:大多数元素检出限达 分析元素范围宽:O~U(8~92) 定量分析线性范围宽:从常量--微量—痕量 分析方法的精密度高:误差一般在5%以内 制样简单:固体,粉末,液体,无损分析 分析速度快 当试样受到x射线，高能粒子束，紫外光等照射时，由于高能粒子或光子与试样原子碰撞，将原子内层电子逐出形成空穴，使原子处于激发态，这种激发态离子寿命很短，当外层电子向内层空穴跃迁时，多余的能量即以x射线的形式放出，并在外层产生新的空穴和产生新的x射线发射，这样便产生一系列的特征x射线。 当用x射线（一次x射线