SPC(过程控制)方案.ppt

STA.* 测量系统分析和 量具 RR有时是可以互换使用的，有时候代表同样的意思。但是还是须明确他们之间的确有轻微的差别。 量具 RR强调测量系统的重复性和再现性，及其测量结果一致的能力 重复性是在“算子变差内”。变差是同一位观察者使用同一测量仪 器对同一部件的某一 可识别特征进行多次测量， 所得结果。 再现性是“算子变差间”的。变差是 由不同的评价人采用相同的测量仪器， 测量同一零件的同一特性时 测量均值。 当合并到一个测定系统分析时，量具 RR 由零件与零件间的变差决定。这就需要使用多个零件。还需要考虑计量器和观测人员之外的情况。  STA.* 计算Cp/Cpk之前，需要满足两项非常重要的条件。过程须稳定、受控且正态分布。 如果数据不是正态，则Cp/Cpk计算结果无效，数据应转化成近乎正态分布。 非正态，普通原因数据可能进行“转化”，以在分析之前获得正态分布。此项操作信息请查阅福特VP SPC手册和其他统计参考资料。向你的6西格玛黑带大师寻求帮助。 STA.* STA.* 这是Cp/Cpk 和 Pp/Ppk方程式。 Pp/Ppk 也是一组类似 Cp/Cpk的指数。但是现在，我们可以发现Pp/Ppk是潜在的，和或一个性能指数，并非能力指数。随后下几张幻灯片中讨论。 请注意，Pp/Ppk在标准偏差计算中使用许多单独测量值，Cp/Cpk在他们的计