光电成像原理与技术 第一章 绪论课件.ppt

图 3 IPX－VGA210－L型摄像机 固体成像器件 CCD成像器件 光敏面阵列、电荷耦合转移电路构成的集成块 帧/场转移面阵CCD摄像器件 固体成像器件 CMOS成像器件 光敏面阵列、二维移位寄存器构成的集成块 CMOS摄像器件原理框图 光敏元阵列 CMOS像敏元阵列结构 1-垂直移位寄存器；2-水平移位寄存器；3-水平扫描开关；4-垂直扫描开关；5-像敏元阵列；6-信号线；7-像敏元。 1 红外焦平面器件 光机扫描成像的探测器单元及探测器阵列 光辐射 分立的光电器件采用内光电效应或热电效应。器件本身不构成图像（阵列），仅完成图像局部点的光电转换，通过光机扫描装置逐点在相关探测器上形成光电信号以及完成图像扫描和形成、输出视频图像。 单元光机扫描热成像系统的工作原理 光电成像器件特性 光电转换特性 转换系数（增益） 光电灵敏度（响应度）－峰值波长，截止波长 时间响应特性 惰性 脉冲响应函数与瞬时调制传递函数 噪声特性 各种噪声来源与信噪比 噪声等效输入与探测率 图像分辨特性 分辨力 点扩散函数与光学传递函数 光电转换特性 转换系数（增益）G：评价直视型光电成像器件的输入量与输出量的依存关系的重要参数－－光电成像器件在法线方向输出的亮度L与输入的辐照度E的比值。 光电灵敏度（响应率）：评价电视型光电成像器件的输入量与输出量的依存关系的重要参数－－电视型成像器件输出的信号值与光敏面的有效面积上输入的辐照通量（功率）的比值。 峰值波长，截止波长（长波限） 时间响应特性 惰性：产生时间响应的滞后。 余辉：对直视型成像器件而言，当入射辐射瞬间截止时，荧光屏的发光下降过程滞后产生余辉。余辉的时间常数表示为惰性。 三场惰性：工程上，取输入照度截止后，电视摄像器件的第三场输出信号的相对值为惰性指标。 时间常数（弛豫时间）：如果输入辐射瞬间截止，其输出的信号衰减函数为B(t)时，则惰性的时间常数定义为： 当惰性的衰减函数呈负指数时，即 可求出这一惰性的时间常数为： t B(t) ? B(0) 时间响应特性 主要研究下降过程的滞后 脉冲响应函数：当光电成像器件的入射辐射为脉冲函数（如采用ns或ps的窄激光脉冲照明时），得到的输出信号是时间的函数，取其归一化的函数为脉冲响应函数。 该参数可以全面定量地分析光电成像的时间响应特性。 瞬时调制传递函数：光电成像系统所输出的归一化时间频谱函数与理想输出（无惰性）的归一化时间频谱函数的比。－－描述光电成像在频率域的时间响应特性，如P(t)为输出的时间响应函数，则 光电成像器件的瞬时调制传递函数就等于归一化的脉冲响应频谱函数，即脉冲响应函数与瞬时调制传递函数式一对傅氏变换对。 噪声特性－各种噪声来源与信噪比 散粒噪声：具有泊松分布的量子涨落噪声。起因：带电粒子的量子性－－带电粒子发射或穿越势垒时，每一瞬间数量不恒定。（白噪声－噪声的功率谱密度与频率无关）光电发射量子噪声、扫描电子束热发射量子噪声、载流子穿越势垒的量子噪声 产生复合噪声：半导体成像器件中，光敏面在稳定的入射激发条件下，每瞬间产生的载流子数目不一定，同时，载流子的复合及被俘获的过程也是随机的，只有在很长时间内累计的平均值是确定的。 温度噪声：热效应的成像器件中，因温度的随机涨落而形成的噪声。起因：热交换具有量子性，即稳定条件下，每瞬间交换的辐射量子数不是确定值。（在低频域为白噪声） 热噪声：又称约翰逊噪声，是导电体内电子无规则热运动所形成的瞬间电流。－－光电导与电阻性元件都产生热噪声。（白噪声） 低频噪声（1/f噪声或称电流噪声）：机理不明，其等效电流值近似与频率倒数成正比。 介质损耗噪声：热电体（电介质材料）是通过电偶极子的极化过程来产生电信号的，该极化过程的弛豫现象，使流过的交流电消耗能量，因而在热电体中产生噪声。 电荷耦合器件(CCD)的转移噪声：电荷包转移过程中要产生转移损失和界面态俘获损失，这两项损失构成的噪声。 噪声特性－各种噪声来源与信噪比 信噪比S/N：信号与噪声的比值。 直视型成像器件：全部噪声反映在输出像点的闪烁上，信号是输出像点的平均亮度值。可通过测量输出像点的平均亮度与闪烁值获得信噪比。 国际上规定的测试条件：取像点的直径为0.2mm，输入照度1.24×10-5lx，测试系统（含被测器件）的等效通频带宽为10Hz。 如果所用的像点面积为A，输入照度为E，通频带宽为Δf时，其计算信噪比的公式为： 电视型成像器件：通常用前置放大器输出端的视频信号与噪声之比来表示。这是因为前置放大器具有较大的功率增益，可略去后继的各级放大器噪声。这一输出噪声称之为：视频信噪比。 显示信噪比：取人眼的时间常数为有效积分时间的信噪比值。由于人眼视觉的有效积分时间为0.02s，刚好等于电视的场频周期，远大于扫描像元