点阵常数精确测定及其应用材料学基础.pptVIP

点阵常数的精确测定及其应用 点阵常数精确测量的目的与意义 点阵常数与物理性能的关系 点阵常数是晶体物质的重要参数，晶体材料中原子键合力、密度、固溶体类型、固溶度及宏观应力、固态相变、热膨胀系数等，都与点阵常数的变化密切相关。通过点阵常数的变化可揭示这些问题的本质和变化规律 变化特点 这类变化通常仅在10-5nm数量级下，通常的测量条件下，这种微小的变化被实验误差所掩盖。因此，必须对点阵常数进行精确测定 点阵常数测定的基本原理 通过衍射角，晶体指数，射线波长等数据来计算点阵常数值 点阵常数测定的基本原理 若为立方晶系,有： 在已知晶体结构的情况下，通过任何一个衍射峰的位置(θ或d值)就可以计算出晶体的点阵常数 误差与校正 机械零点误差校正 只有通过精确调整设备的机械零点，现代X射线衍射仪都有自动调整程序，通过反复调光来校准机械零点 试样转动与计数器转动角度的匹配误差校正 由于样品转动与计数器转动速度不匹配，导致衍射峰位置的偏移。可以通过标准硅作校正。 Δ（2θ）=A0+A1*（2θ）+A2*（2θ）2+A3*（2θ）3+A4*（2θ）4 式中Δ（2θ）=2θ计算-2θ测量，A0，A1，A2，A3，A4为最小二乘法的最佳匹配参数 误差与校正 计数测量系统滞后误差 现代X射线衍射仪由于使用计算机采集数据，基本上不存在这种误差 折射校正 X射线在空气中的折射率非常接近