2013年研究生公共实验课讲义..docVIP

实验19调制偏振光相位延迟测量实验 引言 在光学技术领域，特别是在偏光技术应用中，光学相位延迟器件是光学调制系统中的重要器件。这类器件是基于晶体的双折射性质，利用光通过晶体可以改变入射光波的振幅和相位差的特点，改变光波的偏振态。相位延迟器件包括各种波片和补偿器，和其它偏光器件相配合，可以实现各种偏振态之间的相互转换、偏振面的旋转以及各类偏振光的调制，广泛应用于光纤通讯、光弹力学、光学精密测量等领域中。相位延迟量是光学相位延迟器件的重要参数，与器件的厚度、光学均匀性、应力双折射等诸多因素有关，其精度直接关系到应用系统的质量，因此准确的测定相位延迟量，提高其测量精度是非常有意义的，得到了越来越多的重视和研究。 目前，对光学相位延迟量的测量方法有很多，包括半阴法、补偿法、电光调制法、机械旋光调制法、磁光调制法、相位探测法、光学外差测量法、分频激光探测法、分束差动法等等。测量方法的发展历程，经历了由简单到复杂，由直接测量到补偿法测量，由标准波片补偿到电光、磁光补偿。补偿法的一个问题是补偿器本身会带来一定的误差，如：标准波片“不标准”，电光补偿存在非线性性、补偿器光轴与测量光束不垂直等。本实验提出一种新的光学相位延迟量测量方法：用调制偏振光准确判断极值点位置，用索列尔-巴比涅相位补偿器进行相位补偿，结合了补偿法和电光调制法的优点，又降低了补偿器本身对结果的影响，测量精度高，适用范围